[发明专利]测试机构、测试方法及分光机

权利要求书

1.测试机构，用于对分选件进行测试，其特征在于，包括：

支撑座，用于支撑所述分选件，所述支撑座上开设有通孔；

校正定位组件，位于所述支撑座的上方，用于夹持并定位所述分选件；所述校正定位组件包括校正定位底座、用于夹持所述分选件的两个夹持臂、支撑各所述夹持臂的校正定位顶座和用于驱动两个所述夹持臂相互靠近或远离的校正定位驱动单元；所述校正定位驱动单元安装于所述校正定位底座上，所述校正定位驱动单元分别与两个所述校正定位顶座连接，各所述校正定位顶座安装于所述校正定位底座上；

测试针，位于所述支撑座的下方；

测试驱动组件，与所述测试针相连，用于驱动所述测试针进出所述通孔以使该测试针靠近或远离所述分选件。

2.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于：各所述夹持臂上开设有供所述分选件伸入的凹槽。

3.如权利要求2所述的测试机构，其特征在于：各所述凹槽的内侧壁设有用于将所述分选件压紧于所述支撑座上的压紧斜面。

4.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于：所述校正定位驱动单元包括设于两个所述校正定位顶座之间的校正定位凸轮和安装于所述校正定位底座上并与所述校正定位凸轮连接的校正定位电机，所述校正定位凸轮的两端分别与两个所述校正定位顶座抵接。

5.如权利要求4所述的测试机构，其特征在于：各所述校正定位顶座上安装有与所述校正定位凸轮抵接的校正定位传动轮。

6.如权利要求1-5任一项所述的测试机构，其特征在于：所述校正定位组件还包括连接两个所述校正定位顶座的校正定位弹性件。

7.如权利要求1-5任一项所述的测试机构，其特征在于：所述校正定位底座上间隔安装有两个校正定位滑轨，各所述校正定位顶座上安装有校正定位滑块，各所述校正定位滑块滑动安装于相应所述校正定位滑轨上。

8.如权利要求1-5任一项所述的测试机构，其特征在于：所述支撑座上还开设有与所述通孔间隔设置的气孔。

9.测试方法，采用如权利要求1-8任一项所述的测试机构，其特征在于，所述测试方法包括：

校正定位组件将支撑座上的分选件进行夹持并定位；

测试驱动组件驱动测试针穿过通孔以使该测试针与所述分选件的引脚抵接导通。

10.分光机，其特征在于：包括如权利要求1-8任一项所述的测试机构。