[发明专利]测试机构、测试方法及分光机

说明书

本申请提供了一种测试机构、测试方法及分光机，该测试机构用于对分选件进行测试，包括：支撑座，用于支撑分选件，支撑座上开设有通孔；校正定位组件，位于支撑座的上方，用于夹持并定位分选件；测试针，位于支撑座的下方；测试驱动组件，与测试针相连，用于驱动测试针进出通孔以使该测试针靠近或远离分选件。本申请通过支撑座将分选件支撑，在支撑座的上方设置校正定位组件，在支撑座的下方设置测试针和用于驱动测试针升降的测试驱动组件。当测试驱动组件驱动测试针上升时，测试针穿过支撑座上的通孔并与分选件的引脚接触导通，从而可对分选件进行测试。本申请提供的测试机构对于引脚位于底部的球头LED芯片的测试操作方便快捷。

技术领域

本申请属于分光机技术领域，更具体地说，是涉及一种测试机构、基于该测试机构的测试方法及使用该测试机构的分光机。

背景技术

分光机是按照波长、亮度、工作电压等参数将LED(Light Emitting Diode，发光二极管)芯片分成多个组别以进行分类的设备。

目前，测试机构多用于对引脚位于两端的LED芯片，而对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，其测试的难度较大，测试精度差。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试机构、测试方法及分光机，以解决相关技术中存在的：目前的测试机构对于引脚位于底部的球头LED芯片的测试难度大，测试精度差的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案是：

一方面，提供一种测试机构，用于对分选件进行测试，包括：

支撑座，用于支撑所述分选件，所述支撑座上开设有通孔；

校正定位组件，位于所述支撑座的上方，用于夹持并定位所述分选件；所述校正定位组件包括校正定位底座、用于夹持所述分选件的两个夹持臂、支撑各所述夹持臂的校正定位顶座和用于驱动两个所述夹持臂相互靠近或远离的校正定位驱动单元；所述校正定位驱动单元安装于所述校正定位底座上，所述校正定位驱动单元分别与两个所述校正定位顶座连接，各所述校正定位顶座安装于所述校正定位底座上；

测试针，位于所述支撑座的下方；

测试驱动组件，与所述测试针相连，用于驱动所述测试针进出所述通孔以使该测试针靠近或远离所述分选件。

此结构，(1)本申请通过支撑座将分选件支撑，在支撑座的上方设置校正定位组件，在支撑座的下方设置测试针和用于驱动测试针升降的测试驱动组件。当测试驱动组件驱动测试针上升时，测试针穿过支撑座上的通孔并与分选件的引脚接触导通，从而可对分选件进行测试。特别是对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，本申请提供的测试机构对于该类LED芯片的测试操作方便快捷。(2)本申请通过在支撑座的上方设置校正定位组件，可对分选件进行夹持并定位，分选件在测试的过程中位置不会发生偏移，从而有助于提高测试精度。

在一个实施例中，各所述夹持臂上开设有供所述分选件伸入的凹槽。

此结构，通过两个凹槽可实现对分选件的定位。

在一个实施例中，各所述凹槽的内侧壁设有用于将所述分选件压紧于所述支撑座上的压紧斜面。

此结构，避免测试针将分选件顶起。

在一个实施例中，所述校正定位驱动单元包括设于两个所述校正定位顶座之间的校正定位凸轮和安装于所述校正定位底座上并与所述校正定位凸轮连接的校正定位电机，所述校正定位凸轮的两端分别与两个所述校正定位顶座抵接。

此结构，通过校正定位电机驱动校正定位凸轮转动，通过校正定位凸轮可驱动两个校正定位顶座间歇性地靠近或远离。

在一个实施例中，各所述校正定位顶座上安装有与所述校正定位凸轮抵接的校正定位传动轮。