[发明专利]一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统

权利要求书

1.一种样本分析仪用数据采集系统，其特征在于，包括沿光路传输方向依次设置的滤光片组(12)、出射狭缝(13)、光学绝缘板(14)以及光电二极管阵列(15)；所述滤光片组(12)包括滤光片安装板和多块滤光片，多块所述滤光片并排安装在所述滤光片安装板上。

2.根据权利要求1所述的一种样本分析仪用数据采集系统，其特征在于，所述滤光片组(12)覆盖的波长包括340nm、380nm、405nm、450nm、478nm、505nm、546nm、570nm、600nm、630nm、660nm、700nm、730nm、750nm、800nm以及850nm中的任意一种或任意多种组合。

3.根据权利要求1所述的一种样本分析仪用数据采集系统，其特征在于，所述出射狭缝(13)为阵列狭缝片。

4.一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，包括沿光路传输方向依次设置的前聚焦系统、比色容器(6)、后聚焦系统以及如权利要求1-3中任意一项所述的一种样本分析仪用数据采集系统(11)。

5.根据权利要求4所述的一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，所述前聚焦系统包括光源(0)、第一双凸透镜(1)、第二双凸透镜(3)、反射镜(4)以及第一狭缝(5)；所述光源(0)发出的光信号依次经所述第一双凸透镜(1)聚焦、所述第二双凸透镜(3)准直、所述反射镜(4)反射以及所述第一狭缝(5)过滤后，传输至所述比色容器(6)。

6.根据权利要求5所述的一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，所述比色容器(6)与所述反射镜(4)之间的距离为23mm。

7.根据权利要求5所述的一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，所述反射镜(4)与所述第一狭缝(5)的距离为9.4mm。

8.根据权利要求5所述的一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，还包括传导光纤(2)，所述传导光纤(2)设置于所述第一双凸透镜(1)与所述第二双凸透镜(3)之间，用于将所述第一双凸透镜(1)输出的光信号传输至所述第二双凸透镜(3)。

9.根据权利要求4所述的一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，所述后聚焦系统包括沿光路传输方向依次设置的像差消除单元、第二狭缝(9)以及光栅(10)。

10.根据权利要求9所述的一种样本分析仪用光学检测系统，其特征在于，所述像差消除单元包括第三双凸透镜(7)与第四双凸透镜(8)，且所述第三双凸透镜(7)像的位置为所述第四双凸透镜(8)物的位置。