[发明专利]一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统

说明书

本发明公开了一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统，其中数据采集系统包括沿光路传输方向依次设置的滤光片组、出射狭缝、光学绝缘板以及光电二极管阵列；所述滤光片组包括滤光片安装板和多块滤光片，多块所述滤光片并排安装在所述滤光片安装板上。本发明的目的在于提供一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统，该数据采集系统无需设置多个滤光片分光单元便能完成不同波长的样本测试，简化了数据采集系统的复杂度。

技术领域

本发明涉及生化分析设备技术领域，尤其涉及一种样本分析仪用数据采集系统及光学检 测系统。

背景技术

目前，市面上常用分析仪的光学检测系统大多是由照明系统、聚焦系统、分光系统以及 信号处理系统组合而成，且很多分光系统中，采用光栅分光的系统往往都会在狭缝与光栅之 间加一级准直镜辅助光束传输以保证光束能完整的打在光栅接收面上；另外一种公开系统是 在此基础上增加多个滤光片分光单元系统，分离单色光，这样最大的缺点就是随着分析仪相 关技术的不断突破和测试需求的发掘，需求波长的样本和试剂越多，滤光片分光单元也会随 之增加，实用率低且成本高，结构过于繁冗复杂，无法保证光路系统中各光学元件带来的能 量损耗、像差、光束质量差等问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统，该数据采集系 统无需设置多个滤光片分光单元便能完成不同波长的样本测试，简化了数据采集系统的复杂 度。

本发明通过下述技术方案实现：

一种样本分析仪用数据采集系统，包括沿光路传输方向依次设置的滤光片组、出射狭缝、 光学绝缘板以及光电二极管阵列；所述滤光片组包括滤光片安装板和多块滤光片，多块所述 滤光片并排安装在所述滤光片安装板上。

现有的分光系统中，为了满足对不同波长的测试需要，会沿光路传输方向设置多个滤光 片分光单元，以分离单色光，这样最大的缺点就是随着分析仪相关技术的不断突破和测试需 求的发掘，需求波长的样本和试剂越多，滤光片分光单元也会随之增加，实用率低且成本高， 结构过于繁冗复杂，无法保证光路系统中各光学元件带来的能量损耗、像差、光束质量差等 问题。基于此，在本方案中，提供了一种样本分析仪用数据采集系统，主要包括滤光片组、 出射狭缝以及光电二极管阵列，在光路传输方向只需通过前两个元件(滤光片组和出射狭缝) 便可以实现将不同波段/波长的光透射至光电二极管阵列上进行检测和处理分析，相比于现有 技术中在光路传输方向上设置多个滤光片分光单元，可有效降低系统的复杂度。

优选地，所述滤光片组覆盖的波长包括340nm、380nm、405nm、450nm、478nm、505nm、546nm、570nm、600nm、630nm、660nm、700nm、730nm、750nm、800nm以及850nm中的任意一种或任意多种组合。

优选地，所述出射狭缝为阵列狭缝片。

一种样本分析仪用光学检测系统，包括沿光路传输方向依次设置的前聚焦系统、比色容 器、后聚焦系统以及上述提及的一种样本分析仪用数据采集系统。

现有样本分析仪用光学检测系统中的分光系统，为了满足对不同波长测试需要，会沿光 路传输方向设置多个滤光片分光单元，以分离单色光，这样最大的缺点就是随着分析仪相关 技术的不断突破和测试需求的发掘，需求波长的样本和试剂越多，滤光片分光单元也会随之 增加，实用率低且成本高，结构过于繁冗复杂，无法保证光路系统中各光学元件带来的能量 损耗、像差、光束质量差等问题。基于此，在本方案中，提供了一种样本分析仪用光学检测 系统，该光学检测系统中的数据采集系统主要包括滤光片组、出射狭缝以及光电二极管阵列， 在光路传输方向只需通过前两个元件(滤光片组和出射狭缝)便可以实现将不同波段/波长的 光透射至光电二极管阵列上进行检测和处理分析，相比于现有技术中在光路传输方向上设置 多个滤光片分光单元，可有效降低系统的复杂度。