[发明专利]芯片测试装置与芯片测试系统在审
| 申请号： | 202111088398.5 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113791333A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 彭聪;李康 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 霍文娟 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 系统 | ||
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
电源设备，用于为多个待测芯片提供VCC；
测试设备，包括第一电源和控制芯片，所述第一电源与所述控制芯片电连接以向所述控制芯片提供VCCQ，所述第一电源还用于与所述待测芯片电连接以向所述待测芯片提供所述VCCQ，所述控制芯片用于在所述VCCQ的控制下产生测试信号并发送至所述待测芯片。
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试设备还包括：
开关器件，包括第一端和第二端，所述开关器件的第一端与所述第一电源电连接，所述开关器件的第二端用于与至少一个所述待测芯片电连接。
3.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述开关器件还包括第三端，所述控制芯片与所述开关器件的第三端电连接以控制所述开关器件的工作状态，所述工作状态包括断开状态和闭合状态。
4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置用于测试多个所述待测芯片，一个所述测试设备中的所述开关器件有多个。
5.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置用于测试多个所述待测芯片，所述测试设备有多个。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试设备还包括：
第二电源，与所述控制芯片连接，用于为所述控制芯片提供工作电压。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的芯片测试装置，其特征在于，所述控制芯片为FPGA。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：
预烧板，与所述电源设备连接，用于放置待测芯片。
9.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置用于测试多个所述待测芯片，所述电源设备包括多个输出端，每个所述输出端用于与至少一个所述待测芯片电连接以提供所述VCC。
10.一种芯片测试系统，包括芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置为权利要求1至9的任一项所述的芯片测试装置。
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