[发明专利]一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法

权利要求书

1.一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；所述第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；

总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。

2.如权利要求1所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头沿逆时针方向顺次设置，第1测量探头和第2测量探头沿逆时针方向相隔角α，第3测量探头和第1测量探头沿逆时针方向相隔角β；所述总处理器根据测量角度得到融合后的角度值的公式为：

γ₁、γ₂和γ₃中至多有一个等于0

其中，Angle₁为第1测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle₂为第2测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle₃为第3测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle为融合后的角度值。

3.如权利要求2所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述第1测量探头和第2测量探头相隔120°，第1测量探头和第3测量探头相隔120°。

4.如权利要求2所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述抗污渍测量方法的具体过程为：

Step1、第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头均通过参考编码环寻找绝对位置；

Step2、第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头分别采集精码信号，并计算三个测量探头的精码信号两两之间对应的相位差；

Step3、计算Step2得到的相位差与相位差理论设定值进行比较，根据比较结果和公式(2)得到γ₁、γ₂和γ₃的值；

Step4、根据Step3得出的γ_n的值，采用公式(1)计算融合后的角度值Angle，角度测量完成。

5.如权利要求4所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述Step3具体为：将Step2得到的每个相位差均与对应的相位差理论设定值进行比较，若比较结果为三个相位差均与对应的相位差理论设定值相等，则三组测量探头均未经过被污染的码盘区，即γ₁、γ₂和γ₃均为1，进行Step4；若比较结果为三个相位差中有且仅有一个相位差与其相位差理论设定值相等，则该相位差对应的两个测量探头均未经过被污染的码盘区，而另一个测量探头经过被污染的码盘区，根据公式(2)得出γ₁、γ₂和γ₃的值，进行Step4；若比较结果为三个相位差均与对应的相位差理论设定值不相等，则三组测量探头均经过被污染的码盘区，即γ₁、γ₂和γ₃均为0，回到Step1重新开始或停止角度测量。

6.如权利要求1所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述Step1中每个测量探头确定绝对位置均需采用四个参考点。