[发明专利]一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法

说明书

一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法涉及光电编码器技术领域，解决了现有抗污渍方法对密封和使用环境要求严苛，一旦码盘被污染编码器将无法使用的缺点的问题，方法包括：第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。本发明无需对其码盘密封进行加固，大幅度的降低对使用环境的要求，提高了环境适应力，提高编码器的测量精度和可靠性。

技术领域

本发明涉及光电编码器技术领域，具体涉及一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法。

背景技术

光电编码器又称为光电角位置传感器，是一种集光、机、电一体的数字测角装置，是将旋转角位置、角位移及角速度等物理量转换成电信号的位移传感器。从测量的原理上分光电编码器可分为：图像式和莫尔条纹式；从编码方式上分可分为：绝对式、增量式和准绝对式。

准绝对式光电编码器是在增量式光电编码器的基础上，零位编码环增加多个参考点，继承了增量式光电编码器编码方式简单、工作稳定可靠和响应速度快等优点的同时，还具备寻找绝对位置效率高的优势，即只需旋转一个小角度就能找到绝对位置。在使用过程中，因环境和密封不牢等原因，准绝对式光电编码器的码盘容易被污染，造成输出角度数据跳码。目前主要的解决方法就是加固密封和保持使用环境的清洁度，但要做到光电编码器完全密封是不可能的，即使完全密封，也存在因使用等原因造成的密封泄露，而使用环境更不可控，使用时环境中的污渍极易污染码盘，导致编码器输出角度错误，出现跳码现象，导致准绝对式光电编码器无法使用。

对于其中的莫尔条纹准绝对式光电编码器，其抗污渍的方式也仅为上述的加固密封和保持使用环境的清洁度，至今并未在测量方法上提出改进，基于此，研发一种莫尔条纹准绝对式光电编码器的抗污渍的测量方法。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，以解决现有抗污渍方法对密封和使用环境要求严苛，一旦码盘被污染编码器将无法使用的缺点。

本发明为解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，包括如下步骤：

第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；所述第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；

总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。

采用所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的准绝对式光电编码器，所述光电编码器包括码盘、第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头和总处理器，码盘包括用来确定绝对位置的参考编码环和用来获得莫尔条纹信号精码编码环，第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头对应码盘设置、且均连接总处理器。

本发明的有益效果是：

本发明一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法通过三个测量探头同时测量码盘信息，总处理器再利用至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值，采用三个测量探头的方式替代传统依靠编码器密封技术，在准绝对光电编码器工作时无需对其码盘密封进行加固，大幅度的降低对使用环境的要求，提高了环境适应力；通过对两个或三个测量探头的测量角度数据融合，还可以提高准绝对式光电编码器的测量精度，增强准绝对式光电编码器可靠性。

本发明的光电编码器在机构并不复杂的前提下，无需密封结构，制作工艺简单，角度测量精度高。

附图说明