[发明专利]使用实时搜索结果动态排除可能存在于主扫描中的产物离子

权利要求书

1.一种方法，其包含：

获得第一质谱；

选择所述第一质谱的第一峰；

碎裂并分析所述第一峰的离子以获得第二质谱；

对所述第二质谱中对应于峰的化合物执行实时谱搜索；

识别基于所述实时谱搜索识别的所述化合物的碎片；

将所述碎片的质荷比添加到排除列表中；

选择存在于所述第一质谱中且不在所述排除列表上的第二峰；以及

碎裂并分析所述第二峰的离子以获得第三质谱。

2.根据权利要求1所述的方法，其中添加到所述排除列表中的所述质荷比是基于所识别的所述化合物的所述碎片的理论质荷比和用于收集所述第一质谱的质量分析器的质量准确度或分辨率。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述第一质谱具有与所述第二质谱不同的质量准确度或分辨率。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述第一质谱具有比所述第二质谱更高的质量准确度或分辨率。

5.根据权利要求3所述的方法，其中执行实时谱搜索是基于所述第二质谱的质量准确度或分辨率，且将所述碎片的质荷比添加到所述排除列表是基于所述第一质谱的质量准确度或分辨率。

6.根据权利要求1所述的方法，其中将所述碎片的质荷比添加到排除列表中包括在所述第二质谱中发现的峰。

7.根据权利要求1所述的方法，其中将所述碎片的质荷比添加到排除列表中包括通过所述实时谱搜索识别的理论碎片。

8.根据权利要求7所述的方法，其中将所述碎片的质荷比添加到排除列表中包括通过所述实时谱搜索识别且不存在于所述第二质谱中的理论碎片。

9.根据权利要求7所述的方法，其中执行实时谱搜索是基于所述第二质谱的高碎裂能量，且添加到所述排除列表的所述碎片是基于在所述第二质谱中识别的所述化合物的低碎裂能量。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二质谱中的碎片离子由UVPD、ETD、ECD或不利用与中性气体分子碰撞的另一碎裂过程生成。

11.根据权利要求10所述的方法，其中执行实时谱搜索是基于在所述第二质谱中使用的碎裂过程的预期碎片离子模式，且添加到所述排除列表中的所述碎片是基于在所述第二质谱中识别的所述化合物的基于标准中性碰撞的碎裂。

12.一种质谱仪，其包含：

离子源，所述离子源被配置成对样品进行电离以产生离子；

第一质量分析器，其被配置成产生质谱；以及

控制器，所述控制器被配置成

使用所述质量分析器获得第一质谱；

选择所述第一质谱的第一峰；

使用所述质量分析器来碎裂并分析所述第一峰的离子以获得第二质谱；

对所述第二质谱中对应于峰的化合物执行实时谱搜索；

识别基于所述实时搜索识别的所述化合物的碎片；

将所述碎片的质荷比添加到排除列表中；

从所述第一质谱中选择不在所述排除列表上的第二峰；以及

使用所述质量分析器来碎裂并分析所述第二峰的离子以获得第三质谱。

13.根据权利要求12所述的质谱仪，其中将所述碎片的质荷比添加到排除列表中包括在所述第二质谱中发现的峰。

14.根据权利要求12所述的质谱仪，其中将所述碎片的质荷比添加到排除列表中包括通过所述实时搜索识别的所述化合物的理论碎片。

15.根据权利要求12所述的质谱仪，其中所述实时谱搜索是基于所述第二质谱的高碎裂能量，并且添加到所述排除列表的所述碎片是基于在所述第二质谱中识别的所述化合物的低碎裂能量来识别。