[发明专利]一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法

权利要求书

1.一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

（1）采用GaN红紫外传感器获取绝缘子的紫红外综合图谱，图谱为彩色复合图像；

（2）对步骤（1）中的图像进行分割，获得图像分割保留的放电区域，抛弃其他区域的无用数据；

（3）对步骤（2）中处理后的放电区域图像进行灰度处理获得黑白的灰度图像；

（4）对步骤（3）中黑白的灰度图像采用阈值分割算法进行处理；

（5）对步骤（4）中处理后的灰度图像采用数学的开闭运算进行处理获得有效数据源图像；

（6）将步骤（5）的有效数据源图像采用区域轮廓阈值提取方法将整个灰度图像分为9个均分的图像单元，每个单元的放电图像进行灰度轮廓提取获得各个区域的边界上各像素点的坐标值，将提取的边界点的坐标依次连线构成一条封闭曲线，然后将该封闭曲线叠加到了原始图像之上，就实现了闭合区域的放电提取，并对灰度轮廓所闭合的曲线，进行数值标度，数值标度包括面积、灰度值，进而形成放电分布数据，放电分布数据中灰度值对应的就是放电强度，完成零值绝缘子放电分布的计算。

2.根据权利要求1所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：步骤（2）中的分割方法为阈值分割方法，该方法为：将图像灰度化，每个图像点都对应的是灰度的数值，按照阈值分割方法进行筛选，数值大于25的为有效点，规定为1，小于25的为无效点，规定为0，用全局阈值自动分割算法把为1的数据全部保留下来，把为0的数据删除。

3.根据权利要求1所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：步骤（4）中阈值分割算法为二维阈值分割法。

4.根据权利要求3所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：二维阈值分割法为：按照图像处理的像素点来进行处理，每个点的灰度值与放电强度实际上是一定的对应关系，这里设置221为阈值，低于阈值的图像视为干扰源，高于阈值的灰度图像进行增强处理，进而提炼出对比明显的灰度图像。

5.根据权利要求1所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：数学的开闭运算方法包括腐蚀与膨胀运输方法。

6.根据权利要求5所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：腐蚀与膨胀运输方法为：将原图像 A 与核（结构元素）B 进行卷积，前者是计算结构元素 B 所覆盖区域中最小像素值，并将该值赋给结构元素B 中参考点所指定的像素点；后者是计算结构元素 B 所覆盖区域中最大像素值，同样将该值赋给结构元素 B 中参考点所指定的像素点，计算方式为以B点为中心画圆进行开闭运算，半径由小半径逐步拓展到大半径。

7.根据权利要求1所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：区域轮廓阈值提取方法包括以下步骤：步骤a）检测灰度图像中每一个高亮区域，获取每一个区域的边界信息；b)通过边界信息获取每个连通区域的面积大小；c)设定一个阈值，依次将每个区域面积与该阈值进行对比，大于该阈值的区域保留下来，而小于该阈值的区域会被消除。

8.根据权利要求1所述的一种采用GaN红紫外传感器检测零值绝缘子放电分布的方法，其特征在于：灰度轮廓提取方法为：采用检索边界的近似方法使用 Freeman 链码存取轮廓，Freeman 链码是采用 8 个方向，即 0、1、2、3、4、5、6、7 的方式进行轮廓检测的。