[发明专利]一种轨道电路调谐区测试方法及装置有效
申请号: | 202111103968.3 | 申请日: | 2021-09-22 |
公开(公告)号: | CN113552439B | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 延旭;高博;冯岳;任凤翔;付一朋;曹欣 | 申请(专利权)人: | 卡斯柯信号(北京)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/28 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 刘铁生;孟阿妮 |
地址: | 100160 北京市丰台区汽*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轨道电路 调谐 测试 方法 装置 | ||
1.一种轨道电路调谐区测试方法,其特征在于,所述方法包括:
根据待测试的轨道电路区间所在轨道电路的轨道电路制式,确定所述轨道电路区间进行调谐区测试时所需的测试对象;
设置所述轨道电路区间在预设方向下,针对所述轨道电路区间内每一个区段均执行:确定所述区段涉及的测试对象,调整所述区段的各测试对象的占用状态,每调整一次所述区段的各测试对象的占用状态记录一次所述区段的总轨道状态;
基于所记录的总轨道状态以及所记录的总轨道状态对应的区段的各测试对象的占用状态,生成针对所述轨道电路区间的调谐区测试结果;
基于所记录的总轨道状态以及所记录的总轨道状态对应的区段的各测试对象的占用状态,生成针对所述轨道电路区间的调谐区测试结果,包括:
确定所记录的总轨道状态对应的预期状态;
按照总轨道状态、总轨道状态对应的区段的各测试对象的占用状态、总轨道状态对应的预期状态三者之间的对应关系生成所述调谐区测试结果,其中,所述调谐区测试结果中对于总轨道状态与其对应的预期状态不一致的对应关系做标记。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据待测试的轨道电路区间所在轨道电路的轨道电路制式,确定所述轨道电路区间进行调谐区测试时所需的测试对象,包括:
若待测试的轨道电路区间所在轨道电路的轨道电路制式为第一轨道电路制式,确定所述轨道电路区间进行调谐区测试所需的测试对象包括主轨道、非边界小轨道以及邻站模拟器边界小轨道;其中,所述第一轨道电路制式的轨道电路同时包括非边界小轨道和边界小轨道。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,确定所述区段涉及的测试对象,包括:
若所述区段为边界区段,确定所述区段涉及的测试对象包括主轨道、非边界小轨道以及邻站模拟器边界小轨道;
或,
若所述区段为非边界区段,确定所述区段涉及的测试对象包括主轨道、非边界小轨道。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述区段涉及的测试对象包括主轨道、非边界小轨道,则调整所述区段的各测试对象的占用状态,每调整一次所述区段的各测试对象的占用状态记录一次所述区段的总轨道状态,包括:
设置所述区段的主轨道为占用状态,以及设置所述区段的其他测试对象为空闲状态,记录所述区段的总轨道状态;
设置所述区段的正向小轨道为占用状态,以及设置所述区段的其他测试对象为空闲状态,记录所述区段的总轨道状态,其中,所述非边界小轨道包括正向小轨道和反向小轨道;
设置所述区段的反向小轨道为占用状态,以及设置所述区段的其他测试对象为空闲状态,记录所述区段的总轨道状态;
或,
所述区段涉及的测试对象包括主轨道、非边界小轨道以及邻站模拟器边界小轨道,则调整所述区段的各测试对象的占用状态,每调整一次所述区段的各测试对象的占用状态记录一次所述区段的总轨道状态,包括:
设置所述区段的主轨道为占用状态,以及设置所述区段的其他测试对象为空闲状态,记录所述区段的总轨道状态;
设置所述区段的非边界小轨道为占用状态,以及设置所述区段的其他测试对象为空闲状态,记录所述区段的总轨道状态;
设置邻站模拟器边界小轨道为占用状态,以及设置所述区段的其他测试对象为空闲状态,记录所述区段的总轨道状态。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据待测试的轨道电路区间所在轨道电路的轨道电路制式,确定所述轨道电路区间进行调谐区测试时所需的测试对象,包括:
若待测试的轨道电路区间所在轨道电路的轨道电路制式为第二轨道电路制式时,确定所述轨道电路区间进行调谐区测试所需的测试对象包括邻站模拟器边界轨道区段继电器和本站边界小轨道继电器;其中,所述第二轨道电路制式的轨道电路仅包括边界小轨道。
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