[发明专利]试块及相控阵检测装置校准方法

权利要求书

1.一种试块，其特征在于，所述试块用于对轴类工件的相控阵检测装置进行校准；所述相控阵检测装置包括检测探头；所述试块与所述轴类工件的材质相同；所述试块上设有圆弧，所述试块的圆弧的半径大于或等于对所述轴类工件被检测时检测波的最大声程；所述最大声程为所述轴类工件的直径的一半。

2.根据权利要求1所述的试块，其特征在于，所述试块在使用时其上表面与所述相控阵检测装置的检测探头接触；所述试块的下表面包括多级台阶，每级台阶到所述上表面的距离对应不同轴类工件的直径；所述台阶的长度大于所述轴类工件被检测时检测波的声束覆盖范围；

每两级台阶之间的凹角为圆角，所述圆角的弧面曲率与所述轴类工件的弧面曲率的差值相等。

3.根据权利要求2所述的试块，其特征在于，每级台阶靠近圆角的一端设置有多个等距刻槽，另一端设置有一个与台阶边缘的距离为预设距离的单独刻槽。

4.根据权利要求2所述的试块，其特征在于，所述试块靠近上表面的侧面设置有标度尺；所述标度尺用于标定所述检测探头与所述试块的接触位置，和/或用于标定所述检测探头在所述试块上移动的距离。

5.根据权利要求2所述的试块，其特征在于，所述试块的上下表面的曲率与所述轴类工件的弧面曲率相等；

所述检测探头与所述试块接触后的间隙不大于第一预设阈值；所述检测探头用于发射检测波和接收反射波。

6.根据权利要求5所述的试块，其特征在于，所述第一预设阈值0.5mm。

7.一种相控阵检测装置校准方法，应用于如权利要求1-6任一项所述的试块，其特征在于，所述方法包括：

将检测探头朝向所述试块的圆弧放置，以使所述检测波的传播方向沿着所述圆弧的半径方向；

移动检测探头对所述试块进行扇扫，以对所述相控阵检测装置进行角度增益修正，得到修正的相控阵检测装置。

8.根据权利要求7所述的相控阵检测装置校准方法，其特征在于，所述相控阵检测装置还包括闸门、信号处理器以及显示器；所述移动检测探头对所述试块进行扇扫，以对所述相控阵检测装置进行角度增益修正，得到修正的相控阵检测装置，包括：

移动所述检测探头对所述试块进行扇扫，直到全部的扇扫面角度对应的反射波经过所述闸门后被所述检测探头接收；

根据所述信号处理器对所述检测探头接收的反射波进行处理，并将处理后的信号显示在所述显示器上，得到包络线；

判断所述包络线与是否超出所述显示器的屏幕；

若所述包络线不超出所述显示器的屏幕，则所述相控阵检测装置不需要修正；

若所述包络线超出所述显示器的屏幕，则降低所述相控阵检测装置的增益dB值，直到所述包络线不超出所述显示器的屏幕，得到修正的相控阵检测装置；

在得到修正的相控阵检测装置之后，所述方法还包括：

移动所述检测探头，并观察所述显示器上显示的不同扇扫面角度对应的包络线的高度；

若所述检测探头移动过程中所述包络线的高度变化，则证明角度增益修正有误，重新进行角度增益修正；

若所述检测探头移动过程中所述包络线的高度不变，则证明角度增益修正无误，结束角度增益修正。