[发明专利]试块及相控阵检测装置校准方法

说明书

本发明提供了一种试块及相控阵检测装置校准方法，试块用于对轴类工件的相控阵检测装置进行校准；相控阵检测装置包括检测探头；试块与轴类工件的材质相同；试块上设有圆弧，试块的圆弧的半径大于或等于对轴类工件被检测时检测波的最大声程；最大声程为轴类工件的直径的一半。通过根据最大声程确定试块的圆弧的半径，能够使轴类工件在声程范围内完全被检测波覆盖，轴类工件被检测时检测波的声程范围超过100mm时，对相控阵检测装置的校准精度高。

技术领域

本申请属于轨道车辆检测技术领域，尤其涉及一种试块及相控阵检测装置校准方法。

背景技术

轨道车辆车轴是轨道车辆的重要部件之一，因其承受较大的载荷，很容易出现疲劳裂纹等缺陷。对缺陷进行检测时，通常需要先对相控阵检测装置进行灵敏度校准，再使用校准后的相控阵检测装置对车轴的缺陷进行检测。

现有的校准方法是利用CSK-IA试块或者相控阵A型试块上的R100mm半径圆弧进行校准，但是对于大轴径工件，由于声束扩散、声能衰减以及100mm的声程范围无法覆盖轴件的声程等原因，在声程范围超过100mm时，对相控阵检测装置的校准精度低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种试块及相控阵检测装置校准方法，旨在解决在声程范围超过100mm时对相控阵检测装置的校准精度低的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种试块，所述试块用于对轴类工件的相控阵检测装置进行校准；所述相控阵检测装置包括检测探头；所述试块与所述轴类工件的材质相同；所述试块上设有圆弧，所述试块的圆弧的半径大于或等于对所述轴类工件被检测时检测波的最大声程；所述最大声程为所述轴类工件的直径的一半。

本发明实施例的第二方面提供了一种相控阵检测装置校准方法，应用于如上第一方面所述的试块，包括：

将检测探头朝向所述试块的圆弧放置，以使所述检测波的传播方向沿着所述圆弧的半径方向；

移动检测探头对所述试块进行扇扫，以对所述相控阵检测装置进行角度增益修正，得到修正的相控阵检测装置。

本发明实施例提供的试块及相控阵检测装置校准方法，试块用于对轴类工件的相控阵检测装置进行校准；相控阵检测装置包括检测探头；试块与轴类工件的材质相同；试块上设有圆弧，试块的圆弧的半径大于或等于对轴类工件被检测时检测波的最大声程；最大声程为轴类工件的直径的一半。通过根据最大声程确定试块的圆弧的半径，能够使轴类工件在声程范围内完全被检测波覆盖，轴类工件被检测时检测波的声程范围超过100mm时，对相控阵检测装置的校准精度高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的试块的正视图；

图2是图1中试块的俯视图；

图3是图1中试块的侧视图；

图4是图1中区域A的放大图；

图5是图1中区域B的放大图；

图6是图3中区域C的放大图；

图7是本发明实施例提供的相控阵检测装置校准方法的实现流程图；

图8是本发明实施例提供的ACG修正时探头移动示意图；

图9是本发明实施例提供的声束覆盖验证时探头移动示意图；

图10是本发明实施示例提供的相控阵检测装置校准方法的实现流程图。

具体实施方式