[发明专利]污染检测方法、分光检测方法、分光管理方法及系统

说明书

本申请涉及一种污染检测方法、分光检测方法及分光检测系统，污染检测方法包括：采用检测光照射透明转盘的置料位，以使检测光穿过透明转盘；基于穿出透明转盘的检测光，确定测定参数；基于测定参数与原始参数，获取偏差参数；其中，原始参数对应于检测光自然照射状态下的光学参数，偏差参数能够反映透明转盘的污染程度；基于偏差参数与偏差阈值，输出清洁信号；其中，偏差阈值与透明转盘的污染程度相关联。本申请能够及时判断出当前透明转盘的置料位的污染情况是否需要清洁，以便对透明转盘上的污染进行更为及时的清洁，从而减少因透明转盘上污染未被及时清洁而降低分光机对LED检测精度的情况。

技术领域

本申请涉及电子器件检测设备技术领域，尤其是涉及一种污染检测方法、分光检测方法及分光检测系统。

背景技术

LED的生产过程中通常需要使用到分光机，利用分光机根据LED发出光波长（颜色）、光强、电流电压大小等参数进行分类筛选。其中，分光机主要包括用于承载LED进行输送的转盘输送模组和用于对LED进行供电检测的供电检测模组。具体的，转盘输送模组包括用于对LED进行承托且能够透光的透明转盘，供电检测模组包括能够对LED的发出光参数进行采集的收光检测组件。

实际检测过程中，难免会出现透明转盘被灰尘等杂物污染的情况，这会对LED的检测精度造成影响。对此，公布号为CN106862123A的中国专利公开了一种自动擦拭机构及其分光设备，能够对透明转盘进行升降，从而无需对透明转盘进行拆卸，即可定期对透明转盘进行污染清洁步骤。

针对上述中的相关技术，透明转盘被杂物污染的程度并不是呈线性累积的，可能在刚刚清洁完不久透明转盘上的某个置料位就再次被杂物污染，若是采用定期清洁的方式，则容易因透明转盘上杂物未被及时清洁而降低分光机对LED的检测精度。

发明内容

第一方面，为了提升透明转盘被清洁的及时性，提升分光机对LED的检测精度，本申请提供一种污染检测方法。

本申请提供的一种污染检测方法采用如下的技术方案：

一种污染检测方法，包括：

光照处理，采用检测光照射透明转盘的置料位，以使检测光穿过透明转盘；

基于穿出透明转盘的检测光，确定测定参数；其中，所述测定参数能够反映透明转盘的透光程度；

偏差获取，基于所述测定参数，获取偏差参数；其中，所述偏差参数能够反映透明转盘的污染程度；

基于所述偏差参数与偏差阈值，输出清洁信号；其中，所述偏差阈值用于反映透明转盘污染程度的允许范围。

通过采用上述技术方案，获取能够反映透明转盘污染程度的偏差参数，并基于偏差参数与预设的偏差阈值，及时判断出当前透明转盘的置料位的污染程度是否需要清洁；若需要进行清洁，则输出清洁信号，以便进行后续的污染清洁步骤。相比于定期对透明转盘进行清洁，能够对透明转盘上的污染进行更加及时的清洁，从而减少因透明转盘上污染未被及时清洁而降低分光机对LED检测精度的情况，有效提升分光机对LED的检测精度。

可选的，污染检测方法还包括：

判断数据库中是否存在基础参数，若否则执行参数校正步骤，若是则执行偏差确定步骤；其中，基础参数关联于透明转盘在参数校正步骤时的透光程度；

参数校正，基于测定参数与原始参数，获取基础参数，将基础参数存储至数据库，并且返回光照处理步骤；其中，所述原始参数对应于检测光发出时的光学参数；

偏差确定，基于测定参数与基础参数，获取偏差参数。