[发明专利]一种自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法在审

专利信息
申请号: 202111123329.3 申请日: 2021-09-24
公开(公告)号: CN113808119A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 宣和均;倪杰 申请(专利权)人: 杭州永川科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T3/40;G06T7/181
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 李亦慈;唐银益
地址: 310051 浙江省杭州市滨*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 获取 检测 目标 轮廓 感应 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,在原有双频算法的基础上,通过头围轮廓确认算法,将头部区域成像保留,去除头部以外的无用信息,所述的头围轮廓确认算法为:

利用幅度成像提取被检测目标的外观轮廓,在成像结果的数据中使用线性插值算法,提高边缘分辨率,根据插值完以后的数据,进行等高线的提取,根据最外圈等高线,初步确定大致轮廓,再根据轮廓,确定轮廓中心和椭圆的长轴短轴,确定最终外轮廓。

2.根据权利要求1所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,所述的成像方法步骤如下:

1)根据磁感应脑阻抗成像仪,采集的多个频率的数据,选取一个频率,通过被测目标物的幅度数据与空气的幅度数据,计算粗略的物体外轮廓;

2)根据所获得的粗略成像图数据计算插值,提高边缘的分辨率,使得所框出的边缘轮廓更加精确;

3)根据插值完后的新数据,所述的数据大小为100*100、200*200、300*300、400*400、500*500的任意一种,根据实际的分辨率需要进行选择,使用等高线算法,用等高线确定大致轮廓;

4)根据大致轮廓确定被测目标中心点坐标,并用椭圆方程近似表示被测目标轮廓。

3.根据权利要求2所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,所述的步骤1)的具体步骤为:将硬件采集的数据保存为TMD文件,读取解析数据文件TMD,采集时进行扫频采集,采集多个频率,每个频率存有一帧数据,每一帧数据中可以读到512个字节的头、256个字节的实部数据和256个字节的虚部数据,即256个复数数据a+bi。

4.根据权利要求3所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,所述的采集的数据包括两组,一组为空气中的幅度数据,一组为被测目标物的幅度数据。

5.根据权利要求3或4所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,根据复数数据a+bi,计算幅度再根据空气的幅度数据和被测目标的幅度数据,进行幅度成像数据的计算,计算公式为:L=20*lg(Aobj/Aair),Aobj为被测目标幅度,Aair为空气幅度,最后使用幅度成像数据L进行成像,获得物体外轮廓的粗略表示。

6.根据权利要求2所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,所述的步骤2)具体为:所述粗略成像图是由三角剖分单元组成的,根据三角剖分单元的值,给每个三角剖分单元填充渐变色,就成为了成像图,每一个三角单元的顶点都有一个成像值,根据这些成像值进行简单线性插值,即根据三角形内部的重心坐标来插值,插值成100*100、200*200、300*300、400*400、500*500等不同分辨率的数据来提高成像图的分辨率。

7.根据权利要求2所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,所述的步骤3)的具体步骤为:根据相同值连线的算法,将成像图用等高线圈出被测目标的每一层,取最外圈的等高线,作为大致轮廓。

8.根据权利要求3所述的自动获取检测目标轮廓的磁感应成像方法,其特征在于,所述的步骤4)的具体步骤为:根据等高线,计算等高线上每个点坐标(X,Y)的最大最小值,分别为Xmax,Xmin,Ymax,Ymin,分别表示横坐标最大值、横坐标最小值、纵坐标最大值、纵坐标最小值,则中心点横坐标X=(Xmax+Xmin)/2,纵坐标Y=(Ymax+Ymin)/2,根据最外圈等高线上的点到中心点的距离确定长轴短轴,距离最长为长轴的一半,最短为短轴的一半,最后用椭圆的标准方程a表示长轴的一半,b表示短轴的一半,x,y表示椭圆上点的横坐标和纵坐标确定最终轮廓。

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