[发明专利]一种波形激励方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种波形激励方法及装置，采用波形激励，根据不同激励需求能灵活设置激励变量中的波形类型以及波形的持续时间，激励变量可以为单波形，也可以为组合波形。通过预先存储每种波形的采样点数据，再根据激励需求建立ICD总线的数据结构中的域结构与激励变量之间的映射关系后，能根据该映射关系以及采样点数据生成激励变量的激励数据，进而实现波形激励。本发明实施例不需要测试人员手动输入激励数据，有效减轻了测试人员的工作量。即使ICD总线的数据结构改变，只需要调整ICD总线的数据结构中的域结构与激励变量之间的映射关系即可，提高了系统测试效率。

技术领域

本发明实施例涉及电力电子技术领域，更具体的，涉及一种波形激励方法及装置。

背景技术

在电子系统的调试和验收过程中，激励是一种常见的技术手段。

现有技术中，激励数据是由测试人员根据ICD(IntcrfaceControl Document，接口控制文件)总线的数据结构手动输入的，一旦ICD总线的数据结构发生变化，需要测试人员同步修改激励数据，增加了测试人员的工作量，降低了系统测试效率。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种波形激励方法及装置，降低了测试人员的工作量，有效提高了系统测试效率。

为了实现上述发明目的，本发明实施例提供的具体技术方案如下：

一种波形激励方法，包括：

响应于激励变量设置指令，设置激励变量中的至少一种波形类型以及波形的持续时间，其中，所述激励变量中所有波形的持续时间之和为激励时长；

建立ICD总线的数据结构中的域结构与所述激励变量之间的映射关系；

根据所述激励变量中的波形类型以及波形的持续时间，计算采样点数量，并从预先存储的波形采样数据中获取采样点数量对应的采样点数据；

依据ICD总线的数据结构中的域结构与所述激励变量之间的映射关系以及所述采样点数据，生成激励数据，进行波形激励。

可选的，所述建立ICD总线的数据结构中的域结构与所述激励变量之间的映射关系，包括：

将一个ICD数据块中的域结构映射在一个所述激励变量上；或

将一个ICD数据块中的不同域结构分别映射在多个所述激励变量上；或

将一个以上ICD数据块中的域结构映射在一个所述激励变量上。

可选的，在所述进行波形激励之前，所述方法还包括：

根据ICD总线的数据结构中的域结构与所述激励变量之间的映射关系以及所述采样点数据，在可视化的界面中查看所述激励数据的形态。

可选的，在进行波形激励之后，所述方法还包括：

接收波形调整指令；

对所述波形调整指令进行解析，得到待调整波形类型以及调整后的持续时间；

根据待调整波形类型以及调整后的持续时间，对所述激励变量进行修改。

可选的，所述激励变量与ICD总线的数据结构中的域结构之间的映射关系为一对一或一对多或多对多，多个具有相同激励需求的域结构可以按照同一个所述激励变量设计的波形进行波形激励，其中，多个域结构可以来自于一个ICD数据块，也可以来自于不同的ICD数据块。

可选的，在将一个ICD数据块中的域结构映射在一个所述激励变量上的情况下，所述依据ICD总线的数据结构中的域结构与所述激励变量之间的映射关系以及所述采样点数据，生成激励数据，进行波形激励，包括：