[发明专利]发光二极管及其制造工艺在审

专利信息
申请号: 202111131491.X 申请日: 2021-09-26
公开(公告)号: CN113903761A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 黄敏;刘鹏;夏章艮;张中英 申请(专利权)人: 泉州三安半导体科技有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L21/78;H01L33/24
代理公司: 厦门加减专利代理事务所(普通合伙) 35234 代理人: 李强;包爱萍
地址: 362343 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 及其 制造 工艺
【说明书】:

发明提供一种发光二极管及其制造工艺,发光二极管包括衬底、外延结构以及绝缘层,外延结构设置在衬底上,并包括依次层叠的第一半导体层、发光层和第二半导体层,外延结构具有四个侧壁,相邻两个侧壁的连接部分形成角;绝缘层覆盖在外延结构的上方、外延结构的侧壁以及外延结构周围的衬底上,绝缘层具有第一缺口,第一缺口位于衬底的上表面,且处于外延结构的至少一个角的周围。借此设置,可降低外延结构上产生黑点,保证发光二极管产品良率和性能。

技术领域

本发明涉及半导体制造技术领域,特别涉及一种发光二极管及其制造工艺。

背景技术

发光二极管(英文:Light Emitting Diode,简称:LED)是一种利用载流子复合时释放能量形成发光的半导体器件,LED芯片具有耗电低、色度纯、寿命长、体积小、响应时间快、节能环保等诸多优势。

在LED芯片的制程中,将LED晶圆切割成单颗LED芯粒是制程中重要的一环。目前,LED芯片的切割方式是采用激光隐形切割,在切割过程中,激光会沿着横向切割道与纵向切割道进行交叉切割,以将LED晶圆切割成单颗芯粒。

然而,由于切割道交叉区域激光会重复扫描过去,DBR结构对激光进行反射,导致交叉区域附近的外延层烧伤问题严重,出现黑点,最终影响发光二极管产品性能。

因此,如何保证发光二极管产品良率和性能,已成为本领域技术人员亟待解决的技术难题之一。

发明内容

为解决上述发光二极管产品良率低、性能差的问题,本发明提供一种发光二极管的制造工艺,其包括如下步骤:于衬底上形成外延层,所述外延层包括由下至上堆叠的第一半导体层、发光层和第二半导体层;蚀刻所述外延层至露出所述衬底的部分上表面,以形成多个独立的外延结构,并形成围绕所述外延结构的切割道,其中,各所述外延结构具有四个侧壁,所述切割道包括横向切割道与纵向切割道,所述横向切割道与所述纵向切割道相互交叉,形成交叉区域;使用绝缘层覆盖所述切割道、所述外延结构的上表面以及所述外延结构的侧壁;对所述绝缘层进行蚀刻,形成位于所述交叉区域的第一缺口;沿着所述横向切割道与所述纵向切割道进行切割,得到发光二极管。

在一实施例中,所述第一缺口的形状可以为十字形、方形、多边形、圆形或者椭圆形。

在一实施例中,在形成所述第一缺口的同时,还于相邻二个所述外延结构的侧壁之间形成第二缺口,所述第二缺口位于所述切割道的非交叉区域上,位于所述交叉区域的第一缺口的宽度大于位于所述非交叉区域的第二缺口的宽度。

在一实施例中,所述第一缺口是仅形成于所述交叉区域,位于所述切割道的非交叉区域上的绝缘层是完整保留的。

在一实施例中,所述绝缘层于所述第一缺口处具有一侧壁,所述第一缺口处的侧壁的底部与所述外延结构的侧壁具有一最小水平距离,所述最小水平距离的范围至少为4微米。

在一实施例中,在形成围绕所述外延结构的切割道的同时,各所述外延结构的角向外延结构的中心处凹陷以形成凹槽。

在一实施例中,在切割步骤后,所述外延结构的四个侧壁周围的衬底的边缘与所述绝缘层的边缘对齐,所述第一缺口位于所述外延结构的相邻二个侧壁的连接处的周围。

本发明还提供一种发光二极管,其包括衬底、外延结构以及绝缘层。外延结构设置在所述衬底的上表面,并包括依次层叠的第一半导体层、发光层和第二半导体层,所述外延结构具有四个侧壁,相邻两个所述侧壁的连接部分形成角。绝缘层覆盖在所述外延结构的上方、所述外延结构的侧壁以及所述外延结构周围的衬底上,所述绝缘层具有第一缺口,所述第一缺口位于所述衬底的上表面,且处于所述外延结构的至少一个所述角的周围。

在一实施例中,所述第一缺口的形状可以为“L”形、方形、三角形、凹多边形或扇形。

在一实施例中,所述第一缺口仅位于所述外延结构的所述角的周围。

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