[发明专利]一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法

权利要求书

1.一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，包括：

将待测双极性ADC连接至ATE，ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；所述测试条件包括正、负极性测试pattern；所述正、负极性测试pattern中的测试位数为n-1，n为双极性ADC的位数；

ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；所述正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；

基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取待测双极性ADC静态参数DNL，并判断所述待测双极性ADC静态参数DNL是否测试通过。

2.根据权利要求1所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，

所述正极性测试pattern包括正极性模拟输入阶梯波和正极性输出采样pattern；所述负极性测试pattern包括负极性模拟输入阶梯波和负极性输出采样pattern；

所述正极性模拟输入阶梯波的取值范围为：从0V到双极性ADC的最大输入电压值；所述负极性模拟输入阶梯波的取值范围为：从双极性ADC的最小输入电压值到0V；

所述正、负极性模拟输入阶梯波和所述正、负极性输出采样pattern均匹配于所述测试位数。

3.根据权利要求2所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，所述正极性模拟输入阶梯波和所述正极性输出采样pattern的时钟同步，且所述正极性输出采样pattern的采样频率不低于正极性模拟输入阶梯波的输出频率。

4.根据权利要求3所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，通过执行以下操作对待测双极性ADC进行正极性输出采样，包括：

向待测双极性ADC的模拟输入管脚发送所述正极性模拟输入阶梯波；

同时，

根据正极性输出采样pattern，对待测双极性ADC的非最高位数字输出管脚进行正极性输出采样。

5.根据权利要求2所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，

所述负极性模拟输入阶梯波和所述负极性输出采样pattern的时钟同步，且负极性输出采样pattern的采样频率不低于负极性模拟输入阶梯波的输出频率。

6.根据权利要求2所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，通过执行以下操作对待测双极性ADC进行负极性输出采样，包括：

向待测双极性ADC的模拟输入管脚发送所述负极性模拟输入阶梯波；

同时，

根据负极性输出采样pattern，对待测双极性ADC的非最高位数字输出管脚进行负极性输出采样。

7.根据权利要求2-6中任一项所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，

所述正、负极性模拟输入阶梯波中的一个LSB码宽对应正、负极性模拟输入阶梯波中的k个阶梯，所述正、负极性模拟输入阶梯波的阶梯数为k*2^n-1；

所述正、负极性输出采样pattern中用于采样的行数等于所述正、负极性模拟输入阶梯波的阶梯数k*2^n-1；

所述正、负极性输出采样pattern中用于采样的数字输出管脚总位数为n-1；其中，0位为数字输出管脚最低位，n-2位为数字输出管脚最高位。

8.根据权利要求1-6中任一项所述的基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，其特征在于，获取待测双极性ADC静态参数DNL：

分别将正、负极性输出采样结果及测试位数输入至DNL算法，获取正、负极性对应的静态参数DNL；

将正、负极性对应的静态参数DNL中的较大值作为所述待测双极性ADC静态参数DNL，并判断所述待测双极性ADC静态参数DNL是否测试通过。