[发明专利]一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法

说明书

本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；测试条件包括正、负极性测试pattern；正、负极性测试pattern中的测试位数为n‑1，n为双极性ADC的位数；ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取待测双极性ADC静态参数DNL，并判断所述待测双极性ADC静态参数DNL是否测试通过。

技术领域

本发明涉及电子元器件检测技术领域，尤其涉及一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法。

背景技术

ADC是一种将模拟信号转换成数字信号的接口电路，其中，DNL用于表征ADC实际输出与理想转换曲线的区别，体现ADC的转换性能，是ADC的重要静态参数技术指标。DNL(微分非线性)主要是实际代码步距与理论代码步距之差。大部分ADC为单极性ADC，即模拟输入范围一般为GND到正压的范围，双极性ADC是模拟输入范围覆盖负压和正压的ADC。双极性ADC具有很好的兼容性，不需要信号转换就可以和大部分双极性驱动及控制电路匹配，然而由于其正负压输入范围导致双极性ADC输出数字码转换图形不再单调，存在突变点，仍然采用基于 ATE的单极性ADC静态测试方法将使测试结果出现极大误差，难以正确测量DNL。以往的双极性ADC静态参数测试方法有两种：

第一，需要采用反相器的外围电路设计，此种方法可以完美解决转换曲线不单调、不连贯的问题，自动测试机台可以直接对连续的转换曲线带入参数公式计算，但此种方法需要更改ADC外围测试环路，增加了硬件设计成本，较为繁琐，对于同系列或同类型通用ADC测试适配器，兼容性不高，较少采用。

第二，不更改典型的ADC测试环路设计，将每次ADC输出的数据，采样至自动测试机台寄存器中，通过软件算法对每一拍采样数据取反，此种方法也可以获得完整的转换曲线，但是增加了软件编程的难度，增加软件运行时间，较为繁琐，而且对于同系列ADC需要定制程序，开发成本高。

发明内容

鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种基于ATE的双极性 ADC静态参数DNL快速测试方法，用以解决现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。

本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，包括：

将待测双极性ADC连接至ATE，ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；所述测试条件包括正、负极性测试pattern；所述正、负极性测试pattern中的测试位数为n-1，n为双极性ADC的位数；

ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；所述正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；

基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取待测双极性ADC静态参数DNL，并判断所述待测双极性ADC静态参数DNL是否测试通过。

在上述方案的基础上，本发明还做出了如下改进：

进一步，所述正极性测试pattern包括正极性模拟输入阶梯波和正极性输出采样pattern；所述负极性测试pattern包括负极性模拟输入阶梯波和负极性输出采样pattern；

所述正极性模拟输入阶梯波的取值范围为：从0V到双极性ADC的最大输入电压值；所述负极性模拟输入阶梯波的取值范围为：从双极性 ADC的最小输入电压值到0V；

所述正、负极性模拟输入阶梯波和所述正、负极性输出采样pattern 均匹配于所述测试位数。