[发明专利]制冷机组及其化霜控制方法、冷库有效
申请号: | 202111137780.0 | 申请日: | 2021-09-27 |
公开(公告)号: | CN113899152B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 张俊生;谢斌斌;肖福佳;何腾宗;徐豪昌 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | F25D29/00 | 分类号: | F25D29/00;F25D21/08 |
代理公司: | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人: | 尹彦 |
地址: | 519000*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制冷 机组 及其 控制 方法 冷库 | ||
1.一种制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,包括:
步骤10,预先设置多个采样点来检测制冷机组中安装着待化霜部件的壳体的质量分布情况;
步骤11,在所述待化霜部件未结霜时,计算得到所述壳体的初始质量分布差值;
步骤12,在所述待化霜部件化霜过程中,定时检测所述壳体的质量分布情况并计算得到当前质量分布差值;
步骤13,若最近一次得到的当前质量分布差值小于等于所述初始质量分布差值,则判定所述待化霜部件的化霜盲区不需要化霜。
2.如权利要求1所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,在用于支撑或吊所述壳体的支架上设置所述采样点。
3.如权利要求2所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,所述采样点包括在壳体顶面或底面的相对两侧分别设置的两组采样点。
4.如权利要求3所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,所述初始质量分布差值以及当前质量分布差值采用两组采样点的平均值的差值计算得到。
5.如权利要求1所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,还包括步骤14,若最近一次得到的当前质量分布差值大于所述初始质量分布差值且小于等于极限质量分布差值,则判定所述待化霜部件的化霜盲区需要化霜。
6.如权利要求1所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,还包括步骤15,若最近一次得到的当前质量分布差值大于极限质量分布差值,则判定所述制冷机组需要停机检查。
7.如权利要求1至6任意一项所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,还包括:
步骤20,预先根据结霜难易程度,将所述待化霜部件划分为多个化霜区域,并在各化霜区域内安装可独立控制的化霜部件,所述化霜区域包括所述化霜盲区;
步骤21,当所述待化霜部件进入化霜模式时,按照结霜由易到难的顺序,每次间隔对应时间依次开启所述化霜盲区以外的多个化霜区域内的化霜部件进行化霜;
步骤22,当所述化霜盲区以外的多个化霜区域均开始化霜后,间隔预设间隔时间再开始执行所述步骤12,对所述化霜盲区是否需要化霜进行判定;
步骤23,若判定所述化霜盲区需要化霜,则开启化霜盲区内的化霜部件进行化霜。
8.如权利要求7所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,所述化霜盲区内的化霜部件的开启时间通过公式(ΔF-ΔF1)/(ΔF2-ΔF1)*S计算得到,所述ΔF为当前质量分布差值,所述ΔF1为初始质量分布差值,所述ΔF2为极限质量分布差值,S为预设的时间基数。
9.如权利要求7所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,还包括:
步骤30,在制冷机组运行过程中,定时检测所述待化霜部件温度最低处的第一温度;
步骤31,当预设结霜温度减去第一温度的差值大于第一预设温度差值时,开始对第一计时时间进行计时;
步骤32,当第一计时时间大于预设计时时间或者所述预设结霜温度减去第一温度的差值大于第二预设温度差值时,则所述待化霜部件进入化霜模式。
10.如权利要求9所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,还包括:
步骤33,所述待化霜部件开始化霜后,若化霜时间大于预设化霜时间,且所述预设结霜温度减去第一温度的差值小于第一预设温度差值,所述待化霜部件退出化霜模式。
11.如权利要求7所述的制冷机组的化霜控制方法,其特征在于,还包括:
步骤40,在制冷机组上电后运行到第一预设时间之前,检测所述壳体的质量分布情况,并计算得到多个采样点的初始质量分布均值;
步骤41,在制冷机组上电后运行到第一预设时间后,每间隔一定时间至少检测一次所述壳体的质量分布情况,并计算得到多个采样点的当前质量分布均值;
步骤42,当当前质量分布均值减去初始质量分布均值大于预设均值差值,则所述待化霜部件进入化霜模式。
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