[发明专利]缺陷检修方法、装置和设备

权利要求书

1.一种缺陷检修方法，其特征在于，应用于第一设备，包括：

获取电路板的扫描图像；

根据所述扫描图像，获取所述电路板的多个缺陷信息，所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息包括所述电路板中的缺陷位置和对应的缺陷类型；

设置所述多个缺陷信息中每个缺陷信息的检修权限，所述每个缺陷信息的检修权限未解除时不允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程，所述每个缺陷信息的检修权限在所指示的缺陷完成检修后能够被解除，所述每个缺陷信息的检修权限解除时允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程；

将所述多个缺陷信息发送给服务器，以指示第二设备根据所述多个缺陷信息对所述电路板进行缺陷检修。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述扫描图像，获取所述电路板的多个缺陷信息，包括：

根据所述扫描图像与标准电路板图像的差异，确定多个缺陷位置；

对于所述多个缺陷位置中的任意一个缺陷位置，根据所述扫描图像中在所述一个缺陷位置处的局部图像与多个标准缺陷图像中的每个标准缺陷图像的相似度，确定所述一个缺陷位置对应的缺陷类型，所述多个标准缺陷图像与多个缺陷类型一一对应，所述多个标准缺陷图像中的每个标准缺陷图像是对应的一个缺陷类型的缺陷的图像；

将所述一个缺陷位置和对应的缺陷类型作为所述电路板的一个缺陷信息。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息还包括所述扫描图像中在缺陷位置处的局部图像，所述设置所述多个缺陷信息中每个缺陷信息的检修权限之前，还包括：

对于所述多个缺陷信息中的任意一个缺陷信息，根据所述一个缺陷信息中的缺陷类型，确定所述一个缺陷信息所指示的缺陷是功能性缺陷还是非功能性缺陷；

若所述一个缺陷信息所指示的缺陷是非功能性缺陷，则根据所述一个缺陷信息中的局部图像，对所述一个缺陷信息进行筛选。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述一个缺陷信息中的局部图像，对所述一个缺陷信息进行筛选，包括：

若所述一个缺陷信息中的局部图像与多个假点缺陷图像中的至少一个假点缺陷图像的相似度大于或等于相似度阈值，则确定所述一个缺陷信息所指示的缺陷为假点缺陷，删除所述一个缺陷信息。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述一个缺陷信息中的局部图像与所述多个假点缺陷图像中的每个假点缺陷图像的相似度均小于所述相似度阈值，则显示缺陷过滤提醒消息，所述缺陷过滤提醒消息中携带所述一个缺陷信息中的局部图像，所述缺陷过滤提醒消息用于提醒用户确认所显示的局部图像中包含的缺陷是否为假点缺陷；

若检测到针对所述缺陷过滤提醒消息的确认操作，则确定所述一个缺陷信息所指示的缺陷为假点缺陷，删除所述一个缺陷信息。

6.一种缺陷检修方法，其特征在于，应用于第二设备，包括：

从服务器获取电路板的多个缺陷信息，所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息包括所述电路板中的缺陷位置和对应的缺陷类型，所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息设置有检修权限；

按序对所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息所指示的缺陷进行检修；

在按序对所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息所指示的缺陷进行检修的过程中，对于所述多个缺陷信息中的任意一个缺陷信息，若进入所述一个缺陷信息的缺陷检修流程，则根据所述一个缺陷信息指示用户对所述一个缺陷信息所指示的缺陷进行检修；

若检测到针对所述一个缺陷信息的解锁操作，则解除所述一个缺陷信息的检修权限，所述解锁操作在所述一个缺陷信息所指示的缺陷完成检修后触发；

若检测到针对所述一个缺陷信息的确认操作，则在所述一个缺陷信息的检修权限已被解除的情况下，进入下一个缺陷信息的缺陷检修流程。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述若检测到针对所述一个缺陷信息的解锁操作，则解除所述一个缺陷信息的检修权限之前，还包括：

在进入所述一个缺陷信息的缺陷检修流程后，若通过传感器采集到感应信息，则确定检测到针对所述一个缺陷信息的解锁操作。