[发明专利]缺陷检修方法、装置和设备

说明书

本申请公开了一种缺陷检修方法、装置和设备，属于电路板检修技术领域。所述方法包括：第一设备获取电路板的扫描图像；根据扫描图像，获取电路板的多个缺陷信息；设置多个缺陷信息中每个缺陷信息的检修权限，每个缺陷信息的检修权限未解除时不允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程，每个缺陷信息的检修权限在所指示的缺陷完成检修后能够被解除，每个缺陷信息的检修权限解除时允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程；将多个缺陷信息发送给服务器，以指示第二设备根据多个缺陷信息对电路板进行缺陷检修。本申请通过为电路板的多个缺陷信息设置检修权限可以保证电路板的所有缺陷都能得到检修，从而避免了缺陷检修漏失，从而保证了电路板的质量。

技术领域

本申请涉及电路板检修技术领域，特别涉及一种缺陷检修方法、装置和设备。

背景技术

随着电子产品的普及，对诸如PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)、FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)等电路板的需求飞速增长。电路板的制作通常由机器来完成，容易导致电路板在制作过程中出现残铜、多孔、少孔等缺陷，所以一般需要在出厂前进行电路板的缺陷检修。

相关技术中，在对电路板进行缺陷检修时，AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)设备对电路板进行光学扫描，得到扫描图像，将扫描图像与标准图像进行对比来检测出缺陷，再由技术人员在VRS(Verified Repired Station，确认检修站)对AOI设备检测出来的缺陷进行修理。

然而，技术人员在VRS检修缺陷时，可能会漏掉对电路板上的某个缺陷的检修，或者由于操作失误而跳过了某个缺陷的检修，从而导致电路板上存在没有被检修的缺陷。

发明内容

本申请提供了一种缺陷检修方法、装置和设备，可以保证电路板上的缺陷都能得到检修。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种缺陷检修方法，应用于第一设备，该方法包括：

获取电路板的扫描图像；

根据所述扫描图像，获取所述电路板的多个缺陷信息，所述多个缺陷信息中的每个缺陷信息包括所述电路板中的缺陷位置和对应的缺陷类型；

设置所述多个缺陷信息中每个缺陷信息的检修权限，所述每个缺陷信息的检修权限未解除时不允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程，所述每个缺陷信息的检修权限在所指示的缺陷完成检修后能够被解除，所述每个缺陷信息的检修权限解除时允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程；

将所述多个缺陷信息发送给服务器，以指示第二设备根据所述多个缺陷信息对所述电路板进行缺陷检修。

在本申请中，通过为电路板的多个缺陷信息中每个缺陷信息设置检修权限，使得在该多个缺陷信息中一个缺陷信息的检修权限未解除时不能进行下一个缺陷信息所指示的缺陷的检修，需完成这个缺陷信息所指示的缺陷的检修，并解除这个缺陷信息的检修权限后，才能触发确认操作进行下一个缺陷信息所指示的缺陷的检修，如此，可以保证在进行缺陷检修时，电路板的多个缺陷信息中的每个缺陷信息所指示的缺陷都能得到检修，从而避免了缺陷检修漏失，进而保证了电路板的质量。

可选地，所述根据所述扫描图像，获取所述电路板的多个缺陷信息，包括：

根据所述扫描图像与标准电路板图像的差异，确定多个缺陷位置；

对于所述多个缺陷位置中的任意一个缺陷位置，根据所述扫描图像中在所述一个缺陷位置处的局部图像与多个标准缺陷图像中的每个标准缺陷图像的相似度，确定所述一个缺陷位置对应的缺陷类型，所述多个标准缺陷图像与多个缺陷类型一一对应，所述多个标准缺陷图像中的每个标准缺陷图像是对应的一个缺陷类型的缺陷的图像；

将所述一个缺陷位置和对应的缺陷类型作为所述电路板的一个缺陷信息。