[发明专利]监控自动光学检测装置的方法及系统在审
申请号: | 202111163645.3 | 申请日: | 2021-09-30 |
公开(公告)号: | CN114002233A | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 李亭庆;阮祺婷;吴省贤;陈重宇 | 申请(专利权)人: | 住华科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/956 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾台南*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 监控 自动 光学 检测 装置 方法 系统 | ||
1.一种监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,包括:
一自动光学检测(Automatic Optical Inspection,AOI)装置,产生错误日志(log)信息;以及
一计算装置,接收所述自动光学检测装置所传送的所述错误日志信息,将所述错误日志信息经过一统计运算取得一统计值,并使用一检定方法判断所述统计值是否超出一阈值。
2.如权利要求1所述的监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,其中所述系统还包括:一服务器,耦接至所述自动光学检测装置及所述计算装置,收集所述自动光学检测装置于一检证周期的所述错误日志信息,并传送所述错误日志信息至所述计算装置;及/或一接收端计算机,接收由所述计算装置所传送的所述警告信号,并通知一使用者所述自动光学检测装置出现运行错误。
3.如权利要求1所述的监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,其中所述错误日志信息包括:产线类别、AOI光学系统类型、AOI装置名称、错误严重程度、时间标记以及错误类型。
4.如权利要求3所述的监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,其中所述自动光学检测装置能够用于进行光学膜的检查,且所述AOI光学系统类型包括:穿透检查、反射检查、直交检查。
5.如权利要求3所述的监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,其中所述错误日志信息包括:其中所述错误严重程度选自等级1为所述自动光学检测装置会立即失效;
等级2为所述自动光学检测装置不会立即失效;以及
等级3为所述自动光学检测装置不会立即失效,且导致所述自动光学检测装置失效机率不高所组成的群组。
6.如权利要求1所述的监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,其中所述统计运算是为中央极限定理。
7.如权利要求1所述的监控自动光学检测装置的系统,其特征在于,其中所述检定方法是为双尾检定。
8.一种监控自动光学检测装置的方法,其特征在于,包括:
通过一自动光学检测(Automatic Optical Inspection,AOI)装置产生错误日志(log)信息;以及
通过一计算装置接收所述自动光学检测装置所传送的所述错误日志信息,将所述错误日志信息经过一统计运算取得一统计值;以及
通过一计算装置使用一检定方法判断所述统计值是否超出一阈值。
9.如权利要求8所述的监控自动光学检测装置的方法,其特征在于,其中所述方法还包括:当所述统计值超出所述阈值时,通过所述计算装置传送一警告信号,以通知所述自动光学检测检测装置出现运行错误;及/或通过一接收端计算机接收由所述计算装置所传送的所述警告信号,并通知一使用者所述自动光学检测装置出现运行错误;及/或在所述计算装置接收所述错误日志信息之前,所述方法还包括:
通过一服务器收集所述自动光学检测装置于一检证周期的所述错误日志信息,并传送所述错误日志信息至所述计算装置。
10.如权利要求8所述的监控自动光学检测装置的方法,其特征在于,其中所述错误日志信息包括:产线类别、AOI光学系统类型、AOI装置名称、错误严重程度、时间标记以及错误类型。
11.如权利要求10所述的监控自动光学检测装置的方法,其特征在于,其中所述自动光学检测装置能够用于进行光学膜的检查,且所述AOI光学系统类型包括:穿透检查、反射检查、直交检查。
12.如权利要求10所述的监控自动光学检测装置的方法,其特征在于,其中所述错误日志信息包括:其中所述错误严重程度选自等级1为所述自动光学检测装置会立即失效;
等级2为所述自动光学检测装置不会立即失效;以及
等级3为所述自动光学检测装置不会立即失效,且导致所述自动光学检测装置失效机率不高所组成的群组。
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