[发明专利]一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块

权利要求书

1.一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，包括：

自上而下依次错开连接的第一阶梯、第二阶梯以及第三阶梯，所述第二阶梯的顶面包括第一顶面和第二顶面，所述第一阶梯具有第一侧面，所述第一顶面与所述第一侧面相邻，所述第二顶面与所述第一阶梯的底面连接，所述第一侧面设有第一列缺陷组，所述第一顶面上设有第二列缺陷组；

所述第一列缺陷组，包括多个第一缺陷，多个所述第一缺陷间隔设置且沿第一斜向预设角排列；

所述第二列缺陷组，包括多个所述第二缺陷，多个所述第二缺陷间隔设置且沿第二斜向预设角排列；

其中，所述第一列缺陷组与所述第二列缺陷组错开排列。

2.根据权利要求1所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一顶面和所述二顶面的连接线与所述第一侧面的垂直投影重合；

所述第二阶梯和所述第三阶梯位于所述第一阶梯底部的侧面平齐。

3.根据权利要求2所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第二阶梯与所述第三阶梯厚度之和的二倍小于所述第一阶梯厚度。

4.根据权利要求1所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一斜向预设角和所述第二斜向预设角范围为30°～60°之间。

5.根据权利要求4所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一列缺陷组中的每个所述第一缺陷之间等间距设置；

所述第二列缺陷组中的每个所述第二缺陷之间等间距设置。

6.根据权利要求5所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一列缺陷组中的第一缺陷数量与所述第二列缺陷组中的第二缺陷数量不同。

7.根据权利要求6所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一列缺陷组中的第一缺陷设有7个，所述第二列缺陷组中的第二缺陷设有5个。

8.根据权利要求7所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一缺陷为第一平底孔，所述第二缺陷为第二平底孔；

所述第一平底孔和所述第二平底孔均为孔径相同的平底孔。

9.根据权利要求8所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一平底孔的孔轴线垂直于所述第一阶梯与所述第一顶面相邻的侧面；

所述第二平底孔的孔轴线垂直于所述第二阶梯的顶面。

10.根据权利要求9所述的一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，其特征在于，

所述第一平底孔的孔深大于所述第二平底孔的孔深；

所述第二阶梯的厚度与所述第二平底孔的深度相等。