[发明专利]利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法在审
申请号: | 202111172299.5 | 申请日: | 2021-10-08 |
公开(公告)号: | CN113866689A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 马龙 | 申请(专利权)人: | 马锐 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02;G06F17/18;G09B23/18 |
代理公司: | 北京智泽德世专利商标代理事务所(普通合伙) 11934 | 代理人: | 李立娟 |
地址: | 100039 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 实验 测量 萨伐尔 定律 中距离 修正 常数 方法 | ||
1.利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法,其特征在于:其包括如下步骤:
A、设置一个直的长度为dl的长导线,通上电流强度为I的恒稳电流;
B、利用可测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P1处测量该处的磁感应强度,得到该处磁感应强度参数B1,利用测距装置测量空间点P1与长导线的中心线之间的距离,得到距离参数R1,利用角度测量装置,测量空间点P1与长导线二端连线之间的夹角θ1;
C、沿着长导线的垂直方向移动测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P2处测量该处的磁感应强度,得到该处磁感应强度参数B2,利用测距装置测量空间点P2与长导线的中心线之间的距离,得到距离参数R2,利用角度测量装置,测量空间点P2与长导线二端连线之间的夹角θ2;
D,重复步骤C多次,即利用可测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P3、P4、……处分别测量该处的磁感应强度,分别得到对应的磁感应强度参数B3、B4、……,利用测距装置分别测量空间点P3、P4、……与长导线的中心线之间的距离,得到多个距离参数R3、R4、……,利用角度测量装置,分别测量空间点P3、P4、P5、……与长导线二端连线之间的夹角θ3、θ4、……;
E、根据修正后的毕奥-萨伐尔定律公式
dB=k Idl·sinθ/(r+X)2 (1)
式中X是毕奥-萨伐尔定律的距离修正常数,k=μ0/4π;
将多次测量得到的数据分别代入(1)式,分别得到:
B1=k Idl·sinθ1/(R1+X)2 (2)
B2=k Idl·sinθ2/(R2+X)2 (3)
B3=k Idl·sinθ3/(R3+X)2 (4)
B4=k Idl·sinθ4/(R4+X)2 (5)
……
将(2)式、(3)式、(4)式、(5)式分别相互进行相除处理,可得到:
B1/B2=[sinθ1/(R1+X)2]/[sinθ2/(R2+X)2] (7)
B1/B3=[sinθ1/(R1+X)2]/[sinθ3/(R3+X)2] (8)
B1/B4=[sinθ1/(R1+X)2]/[sinθ4/(R4+X)2] (9)
B2/B3=[sinθ2/(R2+X)2]/[sinθ3/(R3+X)2] (10)
B2/B4=[sinθ2/(R2+X)2]/[sinθ4/(R4+X)2] (11)
B3/B4=[sinθ3/(R3+X)2]/[sinθ4/(R4+X)2] (12)
再将通过实验测量到的B1、B2、B3、B4、……、θ1、θ2、θ3、θ4、……、和R1、R2、R3、R4、……代入上式,即可得出毕奥-萨伐尔定律中多个距离修正常数X的具体数值,如果所得到的多个距离修正常数X不一致,也就是距离修正常数X是变化不定的变数,这表明修正后的(1)式的磁感应强度计算公式有偏差,这时候就要根据这一具体情况调继续磁场强度的表达式,直至计算出来的距离修正常数X非常贴近于一个常数为止,这时候的磁场强度的表达式才是最符合实际状态的、也更加精确的磁场强度计算公式。
2.按照权利要求1所述的利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法,其特征在于:所述可测量磁感应强度的装置为便携式磁场测试仪。
3.按照权利要求2所述的利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法,其特征在于:所述长导线中的电流强度I大于10安培,所述重复步骤C的次数大于20次。
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