[发明专利]利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法在审

专利信息
申请号: 202111172299.5 申请日: 2021-10-08
公开(公告)号: CN113866689A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 马龙 申请(专利权)人: 马锐
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02;G06F17/18;G09B23/18
代理公司: 北京智泽德世专利商标代理事务所(普通合伙) 11934 代理人: 李立娟
地址: 100039 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 利用 实验 测量 萨伐尔 定律 中距离 修正 常数 方法
【说明书】:

利用实验测量毕奥‑萨伐尔定律中距离修正常数的方法,是利用可测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P1处测量该处的磁感应强度,得到该处磁感应强度参数B1,利用测距装置测量空间点P1与长导线的中心线之间的距离,得到距离参数R1;然后再沿着长导线的垂直方向移动测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P2处测量该处的磁感应强度,得到该处磁感应强度参数B2,利用测距装置测量空间点P2与长导线的中心线之间的距离,得到距离参数R2。其目的是提供一种可解决现有的毕奥‑萨伐尔定律存在明显的缺陷,精确得到毕奥‑萨伐尔定律的距离修正常数的利用实验测量毕奥‑萨伐尔定律中距离修正常数的方法。

技术领域

发明涉及一种利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法。

背景技术

在静磁学中,毕奥-萨伐尔定律(英文:Biot-Savart Law)描述电流元在空间任意点P处所激发的磁场。毕奥-萨伐尔定律表示如下:

电流元Idl在空间某点P处产生的磁感应强度dB的大小与电流元Idl的大小成正比,与电流元Idl所在处到P点的位置矢量和电流元Idl之间的夹角的正弦成正比,而与电流元Idl到P点的距离r的平方成反比。

dB=k Idl·sinθ/r2

式中k=μ0/4π,μ0为真空磁导率;

现有的毕奥-萨伐尔定律存在一个明显的缺陷,就是在电流元Idl到P点之间的距离趋于零的情况下,磁感应强度dB会趋于无穷大,但是,这个结论显然与事实不符,因为P点即使是在电流元Idl的原点处,也不可能产生无穷大的磁感应强度dB。事实上,即使电流元Idl到P点之间之间的距离趋于零,磁感应强度dB也只能是趋于一个常数,绝不会是无穷大,换言之,即使在构成电子流的一个个电子所在的原点处,该处的磁感应强度dB也只能是一个常数,绝不会是无穷大。因此,修正后的毕奥-萨伐尔定律可表示如下:

电流元Idl在空间某点P处产生的磁感应强度dB的大小与电流元Idl的大小成正比,与电流元Idl所在处到P点的位置矢量和电流元Idl之间的夹角的正弦成正比,而与电流元Idl到P点的距离r加上距离修正常数X的平方成反比,即:

dB=k Idl·sinθ/(r+X)2 (1)

式中X是毕奥-萨伐尔定律的距离修正常数,k=μ0/4π。

或者,修正后的毕奥-萨伐尔定律可表示如下:

电流元Idl在空间某点P处产生的磁感应强度dB的大小与电流元Idl的大小成正比,与电流元Idl所在处到P点的位置矢量和电流元Idl之间的夹角的正弦成正比,而与电流元Idl到P点的距离r的平方加上距离修正常数X成反比,即:

dB=k Idl·sinθ/(r2+X)

式中X是毕奥-萨伐尔定律的距离修正常数,k=μ0/4π。

需要说明的是,在得到足够精确、足够多的实验数据后,通过插入实验数据进行计算,有可能发现距离修正常数X不是一个常数,而是变化不定的变数,这表明修正后的二个毕奥-萨伐尔定律的公式都不对,这时候就要根据这一具体情况调继续整毕奥-萨伐尔定律的表达式,直至根据实验数据计算出来的距离修正常数X非常贴近于一个常数为止,这时候的磁场强度的表达式才是最符合实际状态的、也更加精确的磁场强度计算公式。

需要指出的是,毕奥-萨伐尔定律的距离修正常数X的具体数值是多少,人们在目前并不知道。因此,有必要通过实验测量来得到毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数X的具体数值。

发明内容

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