[发明专利]实现硬件调试的接口、微控制器实现调试的方法

权利要求书

1.一种实现硬件调试的接口，其特征在于，包括：

输入/输出调试端口，用于连接调试适配器；

输出逻辑电路，所述输出逻辑电路包括输出驱动电路和缓冲电阻，GPIO输出信号和调试输出信号通过多路选择器连接所述输出驱动电路的输入端，所述缓冲电阻的一端连接于所述输出驱动电路的输出端，所述缓冲电阻的另一端连接于所述输入/输出调试端口；

输入逻辑电路，所述输入逻辑电路的输入端连接所述输入/输出调试端口，输出端输出调试输入信号、GPIO输入信号或模拟输入信号；

调试检测逻辑电路，连接所述输入逻辑电路的输出端。

2.根据权利要求1所述的实现硬件调试的接口，其特征在于，所述输出驱动电路包括PMOS晶体管和NMOS晶体管，所述PMOS晶体管的栅极和所述NMOS晶体管的栅极连接所述多路选择器的输出端，所述PMOS晶体管的源极连接电源端，所述PMOS晶体管的漏极与所述NMOS晶体管的漏极相连并连接所述缓冲电阻的一端，所述NMOS晶体管的源极连接地端，所述缓冲电阻的另一端连接所述输入/输出调试端口。

3.根据权利要求1所述的实现硬件调试的接口，其特征在于，所述输入逻辑电路包括电阻、触发器、第一开关和第二开关，所述电阻的一端经由所述第一开关连接电源端，另一端连接所述触发器的输入端并经由所述第二开关连接地端，并且输出模拟输入信号，所述触发器的输出端连接所述调试检测逻辑电路，所述触发器的输出端输出调试输入信号或GPIO输入信号。

4.根据权利要求1所述的实现硬件调试的接口，其特征在于，所述缓冲电阻的阻值范围为100欧姆~5000欧姆。

5.一种微控制器实现调试的方法，其特征在于，采用权利要求1-4中任一项所述的实现硬件调试的接口，所述方法包括：

所述调试适配器发出特定时序信号；

所述调试检测逻辑电路接收到所述特定时序信号，所述输入/输出调试端口作为调试端口，其中，所述调试检测逻辑电路接收所述特定时序信号过程中，当所述调试适配器输出的电平和所述输出驱动电路输出的电平不同时，经过所述缓冲电阻耦合，所述输入/输出调试端口的电平为所述调试适配器输出的电平；

所述调试检测逻辑电路接收到的电平为所述调试适配器输出的电平，所述微控制器进入调试状态。

6.根据权利要求5所述的微控制器实现调试的方法，其特征在于，所述调试适配器发出特定时序信号之前，所述输入/输出调试端口作为普通输入/输出端口，或者微控制器处于上电检测阶段。

7.根据权利要求5所述的微控制器实现调试的方法，其特征在于，当所述调试适配器输出低电平，所述输出驱动电路输出高电平时，经过所述缓冲电阻耦合，所述输入/输出调试端口为低电平。

8.根据权利要求5所述的微控制器实现调试的方法，其特征在于，当所述调试适配器输出高电平，所述输出驱动电路输出低电平时，经过所述缓冲电阻耦合，所述输入/输出调试端口为高电平。

9.一种微控制器，其特征在于，包括一个或多个如权利要求1-4中任一项所述的实现硬件调试的接口。