[发明专利]实现硬件调试的接口、微控制器实现调试的方法

说明书

本申请提供了实现硬件调试的接口、微控制器实现调试的方法，该接口包括：输入/输出调试端口，用于连接调试适配器；输出逻辑，输出逻辑包括输出驱动和缓冲电阻，GPIO输出信号和调试输出信号通过多路选择器连接输出驱动的输入端，缓冲电阻的一端连接于输出驱动的输出端，缓冲电阻的另一端连接于输入/输出调试端口；输入逻辑，输入逻辑的输入端连接输入/输出调试端口，输出端输出调试输入信号、GPIO输入信号或模拟输入信号；调试检测逻辑，连接输入逻辑的输出端。本申请中，不论是接口作为普通输入/输出端口使用还是微控制器处于上电检测窗口期间，只要调试适配器发出特定序列，都可以立即进入调试状态，不用重新上电复位。

技术领域

本申请涉及一种集成电路领域，更涉及一种实现硬件调试的接口、微控制器实现调试的方法。

背景技术

为了将程序代码下载到微控制器并且执行调试操作，需要在微控制器和PC之间连接调试适配器。为了减少微控制器的端口数量，尤其在小封装芯片中，微控制器的调试接口一般都可以复用为普通输入/输出端口，在不需要调试的时候可以作为普通输入/输出端口使用。调试端口是用作专用调试接口还是普通输入/输出端口可以由调试检测逻辑进行判断。

调试检测逻辑与输入/输出调试端口的输入逻辑电路相连，用于检测输入/输出调试端口是否接收到调试入口检测序列。当调试端口作为普通输入/输出端口使用或是微控制器处于上电检测的窗口期间时，若要进入调试状态，调试适配器发出特定时序信号，调试检测逻辑若检测到调试序列，则将输入/输出调试端口配置为专用调试接口，进行编程调试。

然而，在调试端口作为普通输入/输出端口使用或是微控制器处于上电检测的窗口期间，调试适配器发出特定序列，要对芯片进行调试操作时，调试适配器的输出电平信号和芯片内部普通输入/输出端口的输出电平可能发生电平冲突，无法确定调试端口电平高低，调试检测逻辑无法准确地检测到调试适配器发出的信号，错误率较高，进入调试状态需要芯片上电复位，重新上电复位会浪费时间。同时调试端口电平不稳定会导致电流较大，电路有短路的风险。

目前还没有针对该问题的解决方法，因此，本发明提出一种解决该问题的硬件调试接口的实现方法。

发明内容

本申请的目的在于提供一种实现硬件调试的接口，不论是芯片端口作为普通输入/输出端口使用时，还是微控制器处于上电检测的窗口期间，只要调试适配器发出特定序列，芯片都可以立即切换到调试状态，不用重新上电复位。

本申请一个实施例中公开了一种实现硬件调试的接口，包括：

输入/输出调试端口，用于连接调试适配器；

输出逻辑，所述输出逻辑包括输出驱动和缓冲电阻，GPIO输出信号和调试输出信号通过多路选择器连接所述输出驱动的输入端，所述缓冲电阻的一端连接于所述输出驱动的输出端，所述缓冲电阻的另一端连接于所述输入/输出调试端口；

输入逻辑，所述输入逻辑的输入端连接所述输入/输出调试端口，输出端输出调试输入信号、GPIO输入信号或模拟输入信号；

调试检测逻辑，连接所述输入逻辑的输出端。

在一个优选例中，所述输出驱动包括PMOS晶体管和NMOS晶体管，所述PMOS晶体管的栅极和所述NMOS晶体管的栅极连接所述多路选择器的输出端，所述PMOS晶体管的源极连接电源端，所述PMOS晶体管的漏极与所述NMOS晶体管的漏极相连并连接所述缓冲电阻的一端，所述NMOS晶体管的源极连接地端，所述缓冲电阻的另一端连接所述输入/输出调试端口。

在一个优选例中，所述输入逻辑包括电阻、触发器、第一开关和第二开关，所述电阻的一端经由所述第一开关连接电源端，另一端连接所述触发器的输入端并经由所述第二开关连接地端，并且输出模拟输入信号，所述触发器的输出端连接所述调试检测逻辑，所述触发器的输出端输出调试输入信号或GPIO输入信号。