[发明专利]一种线索缺陷检测方法、终端设备以及计算机存储介质

权利要求书

1.一种线索缺陷检测方法，其特征在于，所述线索缺陷检测方法包括：

获取待检测图像中线索的预测概率图；

基于所述预测概率图确定所述线索的拟合直线段；

基于对所述拟合直线段的切分操作，由所述待检测图像生成若干待检测子图；

对所述若干待检测子图进行缺陷检测，以得到线索的缺陷信息；

所述基于所述预测概率图确定线索的拟合直线段，包括：

基于所述预测概率图中各个像素点的预测概率大小，获取所述预测概率图中的局部峰值点；

基于所述局部峰值点的位置，在所述待检测图像中生成所述拟合直线段；

所述基于所述预测概率图中各个像素点的预测概率大小，获取所述预测概率图中的局部峰值点，包括：

提取所述预测概率图中每一像素点的预测概率；

响应于所述预测概率图中的一个像素点的预测概率大于其他相邻像素点的预测概率，将预测概率大于其他相邻像素点的所述像素点作为局部峰值点。

2.根据权利要求1所述的线索缺陷检测方法，其特征在于，

所述对所述若干待检测子图进行缺陷检测，以得到线索的缺陷信息，包括：

获取每一待检测子图的缺陷概率；

基于所述待检测子图的缺陷概率中的最大缺陷概率，生成所述线索的缺陷信息。

3.根据权利要求2所述的线索缺陷检测方法，其特征在于，

基于所述待检测子图的缺陷概率中的最大缺陷概率，生成所述线索的缺陷信息，包括：

判断所述线索的最大缺陷概率是否大于等于预设概率阈值；

若是，输出所述线索存在缺陷的缺陷信息；

若否，输出所述线索不存在缺陷的缺陷信息。

4.根据权利要求1所述的线索缺陷检测方法，其特征在于，

所述基于对所述拟合直线段的切分操作，由所述待检测图像生成若干待检测子图，包括：

采用预设尺寸的滑动窗口，沿所述拟合直线段的长度方向对所述待检测图像进行切分，得到若干待检测子图。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的线索缺陷检测方法，其特征在于，

所述基于所述预测概率图确定所述线索的拟合直线段之后，所述线索缺陷检测方法还包括：

获取所述拟合直线段的两个端点；

按照所述两个端点的位置旋转所述待检测图像，使得旋转后的待检测图像中的拟合直线段呈水平方向放置。

6.根据权利要求1所述的线索缺陷检测方法，其特征在于，

所述线索的类别至少包括承力索、接触线、补偿绳以及附加线；

获取线索区域中每一类别线索的预测概率图；

对每一类别线索的预测概率图执行：

基于所述预测概率图确定线索的拟合直线段；

基于对所述拟合直线段的切分操作，由所述待检测图像生成若干待检测子图；

对所述若干待检测子图进行缺陷检测，以得到线索的缺陷信息。

7.一种线索缺陷检测装置，其特征在于，所述线索缺陷检测装置包括：预测概率模块、拟合直线模块、切分模块以及缺陷检测模块；其中，

所述预测概率模块，用于获取待检测图像中线索区域的预测概率图；

所述拟合直线模块，用于基于所述预测概率图确定线索的拟合直线段；

所述切分模块，用于基于对所述拟合直线段的切分操作，由所述待检测图像生成若干待检测子图；

所述缺陷检测模块，用于对所述若干待检测子图进行缺陷检测，以得到线索的缺陷信息；

所述拟合直线模块，还用于基于所述预测概率图中各个像素点的预测概率大小，获取所述预测概率图中的局部峰值点；基于所述局部峰值点的位置，在所述待检测图像中生成所述拟合直线段；

所述拟合直线模块，还用于提取所述预测概率图中每一像素点的预测概率；响应于所述预测概率图中的一个像素点的预测概率大于其他相邻像素点的预测概率，将预测概率大于其他相邻像素点的所述像素点作为局部峰值点。