[发明专利]双纤准直器的角度测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种双纤准直器的角度测试方法，其特征在于，双纤准直器包括第一光纤和第二光纤，所述方法包括：

当测量面位于近场位置时，获取所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上的近场光斑坐标；

当测量面位于远场位置时，获取所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上的远场光斑坐标；

根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直；

若所述双纤准直器与所述测量面不垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度；

根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直，并返回继续判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直；

若所述双纤准直器与所述测量面垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。

2.根据权利要求1所述的角度测试方法，其特征在于，所述根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度，包括：

根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标的横坐标差值以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的水平偏移角度；

根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标的纵坐标差值以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的竖直偏移角度。

3.根据权利要求2所述的角度测试方法，其特征在于，所述水平偏移角度为：

θ_水平＝arctan(|X₁₂-X₁₁|/d)

其中，θ_水平为所述双纤准直器与所述测量面的水平偏移角度，|X₁₂-X₁₁|为所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标的横坐标差值，d为近场与远场之间的距离。

4.根据权利要求3所述的角度测试方法，其特征在于，所述竖直偏移角度为：

θ_竖直＝arctan(|Y₁₂-Y₁₁|/d)

其中，θ_竖直为所述双纤准直器与所述测量面的竖直偏移角度，|Y₁₂-Y₁₁|为所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标的纵坐标差值。

5.根据权利要求4所述的角度测试方法，其特征在于，所述根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿，包括：

控制所述双纤准直器在水平方向上偏摆θ_水平以补偿所述双纤准直器的水平偏移量；

控制所述双纤准直器在竖直方向上俯仰θ_竖直以补偿所述双纤准直器的竖直偏移量。

6.根据权利要求1-5任一项所述的角度测试方法，其特征在于，所述根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直，包括：

根据所述近场光斑坐标确定所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上两光斑之间的近场中心点；

根据所述远场光斑坐标确定所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上两光斑之间的远场中心点；

判断所述近场中心点和所述远场中心点是否重合；

若所述近场中心点和所述远场中心点重合，则判定所述双纤准直器与所述测量面垂直。