[发明专利]双纤准直器的角度测试方法及测试系统在审
申请号: | 202111183510.3 | 申请日: | 2021-10-11 |
公开(公告)号: | CN114001675A | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 刘志强;刘伟伟 | 申请(专利权)人: | 昂纳信息技术(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人: | 陈琳 |
地址: | 518000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双纤准直器 角度 测试 方法 系统 | ||
本发明公开了一种双纤准直器的角度测试方法及测试系统,该方法包括:当测量面位于近场位置时,获取近场光斑坐标;当测量面位于远场位置时,获取远场光斑坐标;根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直;若不垂直,根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度;根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直;若垂直,根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。通过本发明可以提高测试效率。
技术领域
本发明涉及光电技术领域,尤其涉及双纤准直器的角度测试方法及测试系统。
背景技术
光纤无源器件是光纤通信系统中的一类重要器件,用以实现光信号的连接、能量分波/合波、波分复用/解复用、光路转换、能量衰减、反向隔离等功能。为了实现一定的器件功能,输入与输出光纤之间需要插入棱镜、晶体、波片、法拉第旋光片等各种光学元件,为了将器件的损耗降至最小,输入光纤发射的发散光束首先被一个透镜准直,经过上述光学元件之后,再被另一个透镜重新聚焦并耦合到输出光纤中。这种光纤加透镜结构被称为光纤准直器,在光纤无源器件中有着广泛的应用。
尤其是双纤准直器,双纤准直器在各种使用场合中对于双纤角度大小有着不同的要求,因此,需要对双纤准直器的双纤角度进行相应的测试,保证能够满足使用。然而现有的测试方式是由人工进行测量,测试时间长,测试效率低。
发明内容
本发明提供了双纤准直器的角度测试方法及测试系统,旨在解决现有的双纤准直器通过人工进行双纤角度测试,测试效率低下的问题。
第一方面,本发明提供了一种双纤准直器的角度测试方法,双纤准直器包括第一光纤和第二光纤,所述方法包括:当测量面位于近场位置时,获取所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上的近场光斑坐标;当测量面位于远场位置时,获取所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上的远场光斑坐标;根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直;若所述双纤准直器与所述测量面不垂直,根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度;根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直,并返回继续判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直;若所述双纤准直器与所述测量面垂直,根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。
第二方面,本发明还提供了一种双纤准直器的角度测试系统,所述角度测试系统包括控制器、光源、测试平台和设于测试平台上的多维调节机构、探头,所述控制器与所述光源、所述多维调节机构和所述探头连接,所述多维调节机构用于夹持双纤准直器以及调节双纤准直器的角度,所述光源用于为所述双纤准直器提供光源,所述探头具有用于供所述双纤准直器投射的测量面,所述探头能够相对所述双纤准直器沿直线移动至近场和远场位置;所述控制器用于执行第一方面所述的角度测试方法。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:通过将测量面移动到近场位置,双纤准直器投射到测量面上,获取近场光斑坐标;然后将测量面移动到远场位置,获取远场光斑坐标;再根据近场光斑坐标和远场光斑坐标判断双纤准直器与测量面是否垂直;在垂直的情况下利用近场光斑坐标和远场光斑坐标以及远近场之间的距离测量双纤角度;在非垂直的情况下先利用近场光斑坐标和远场光斑坐标以及远近场之间的距离测量双纤准直器与测量面的偏移角度,然后再调整双纤准直器进行角度补偿,使得双纤准直器与测量面相垂直之后再测量双纤角度,由此,实现了双纤准直器的角度自动化测试,替代现有的手动测试的方式,提高了测试效率,节省人工成本。
附图说明
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