[发明专利]一种ATO靶材前驱体及其制备方法与应用在审

专利信息
申请号: 202111186924.1 申请日: 2021-10-12
公开(公告)号: CN113831120A 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 刘永成;陈明飞;郭梓旋;徐胜利;江长久;陈明高;莫国仁;王志杰;李跃辉 申请(专利权)人: 长沙壹纳光电材料有限公司
主分类号: C04B35/457 分类号: C04B35/457;C04B35/622;C23C14/34;G02F1/1343
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 赵琴娜
地址: 410000 湖南*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 ato 前驱 及其 制备 方法 应用
【说明书】:

发明公开了一种ATO靶材前驱体及其制备方法与应用,该前驱体制备原料包括以下组分:氧化锡和氧化锑;所述氧化锑的质量分数为0.15%~1.8%;所述ATO靶材前驱体的比表面积在15m2/g至25m2/g之间。本发明通过控制氧化锑掺入的比例制得了电阻均匀性优异及光学透过率高的ATO靶材。

技术领域

本发明涉及光电功能材料技术领域,具体涉及一种ATO靶材前驱体及其制备方法与应用。

背景技术

伴随着显示科技的发展,液晶显示器(LCD)以其低工作电压、低功耗、低辐射、以及轻薄美观等优势,为大众所喜爱,已成为市场的主流。随着人们对液晶显示器认知度的逐渐提高,对于显示性能也提出了越来越高的要求,如高亮度、高对比度、高响应速度等,而且对于整个显示器的画质要求也越来越苛刻。

而残影问题已经成为影响显示性能的主要因素,残影主要是由于器件中ITO(氧化铟锡)薄膜的低电阻特性引起电场强度分布不均(电阻太低会造成反复响应过程存在交变电场,会影响液晶的偏转。),两侧边缘电场强度差别明显而无法完全抵消所引起。

为了解决残影问题,必须寻找一种新的材料替代ITO材料,其制成的薄膜在可见光范围具有高透过性以及高电阻的电学性能。

因此,需要开发一种ATO靶材前驱体,利用该ATO靶材前驱体制得的ATO靶材透过率高,且溅射电阻均匀性高。

发明内容

为解决现有技术中存在的问题,本发明的提供了一种ATO靶材前驱体,利用该ATO靶材前驱体制得的ATO靶材透过率高,且溅射电阻均匀性高。

本发明还提供了上述ATO靶材前驱体的制备方法。

本发明还提供了上述ATO靶材前驱体的应用。

本发明还提供了一种ATO靶材,该ATO靶材均匀度高。

本发明还提供了上述ATO靶材的制备方法。

本发明还提供了上述ATO靶材的应用。

本发明的第一方面提供了一种ATO靶材前驱体,制备原料包括以下组分:氧化锡和氧化锑;

所述氧化锑的质量分数为0.15%~1.8%;

所述氧化锡的比表面积在15m2/g至25m2/g之间;

所述氧化锑的比表面积在15m2/g至25m2/g之间。

根据本发明的一些实施方式,所述ATO靶材前驱体的比表面积在10m2/g至15m2/g之间。

前驱体的比表面积越高,烧结活性就越高,更容易烧结,但粉末更细,压制成型的弹性后效太大,靶材容易分层或开裂;比表面积越低,需要的烧结温度越高,更难烧结。

本发明的第二方面提供了上述ATO靶材前驱体的制备方法,包括以下步骤:将所述氧化锡和所述氧化锑混合后干燥。

根据本发明的一些实施方式,所述氧化锡的比表面积在15m2/g至20m2/g之间。

根据本发明的一些实施方式,所述氧化锑的比表面积在20m2/g以上。

干燥温度会使粉体会轻微长大,造成BET下降。另外粉体混合后,微观相互咬合,也会造成BET变小。

根据本发明的一些实施方式,所述干燥的温度为100℃~140℃。

根据本发明的一些实施方式,所述干燥的温度为120℃。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长沙壹纳光电材料有限公司,未经长沙壹纳光电材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111186924.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top