[发明专利]一种数字测试向量自动学习方法及系统

说明书

本发明公开了一种数字测试向量自动学习方法及系统，包括上位机、图形发生器PG、驱动器DRIVER、比较器COMPARE、历史存储器HRAM，编写图形文件，图形文件包括输入脚时序和输出脚时序，其中，输入脚时序由被测器件给出，输出脚时序设置为学习状态；运行图形文件，对运行状态进行记录；读取记录的运行状态数据，获取运行状态数据中某个时间内记录的输出管脚状态；将获取的输出管脚状态对运行的图形文件中的输出脚时序进行修正，得到修正后的输出时序，进而得到修正后的图形文件。本发明极大的提升了开发效率，也减少了对芯片输出脚特性的编写，降低了编写难度。

技术领域

本发明涉及一种数字向量的编写和调试方法及系统，属于电子学技术领域。

背景技术

IC测试中按功能区分的话，分为数字集成电路、模拟集成电路和数/模混合集成电路。其中数字集成电路测试中，测试程序编写的复杂度和任务量是比较大的，然而其中数字向量的编写和调试又占了其最重要的一部分。

由于当前的芯片逻辑功能越来越复杂，所以要编写的测试case越来越多，不仅需要将被测器件的驱动脚逻辑编写出来，还需要将对应的输出逻辑编写出来。当面临新产品特性待验证的情况下，对芯片输出脚的功能验证就更复杂了，只能通过被测器件的理论状态编写对应的CLK、Driver和理论输出状态信号等的pattern，但是当输出时时序上存在一些波动时，在变化的附近时是非常难调试的,需要多次进行修改和调试，重复工作任务量非常大，其操作方法如图1所示，撰写pattern图形文件，运行，如果没用通过，在人工进行修改调试，直至运行通过。

由于现在技术中依赖测试人员手动的去反复的修改和验证，在这个过程中存在大量的重复工作，并且由于pattern时序比较复杂，及其容易出现错误，大大降低了开发效率。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种数字测试向量自动学习方法及系统，本发明改进pattern向量的编写和调试效率，解决了复杂逻辑芯片的向量编写难度大，调试效率低的问题。极大提升了数字向量的编写效率、降低调试难度。

技术方案：为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种数字测试向量自动学习方法，包括以下步骤：

步骤1，编写图形文件，图形文件包括输入脚时序和输出脚时序，其中，输入脚时序由被测器件给出，输出脚时序设置为学习状态。

步骤2，运行图形文件，对运行状态进行记录。

步骤3，读取记录的运行状态数据，获取运行状态数据中某个时间内记录的输出管脚状态。

步骤4，将步骤3获取的输出管脚状态对步骤2运行的图形文件中的输出脚时序进行修正，得到修正后的输出时序，进而得到修正后的图形文件。

步骤5，将步骤4得到的修正后的图形文件执行步骤2-4，直至修正后的图形文件在设定的阈值范围内，完成图形文件的修正，得到最终的图形文件。

优选的：将输出脚时序设置为学习状态的方法，将输出脚时序的数据位用“E”描述。

优选的：步骤4中对步骤2运行的图形文件中的输出脚时序进行修正的方法，将步骤3获取的输出管脚状态对图形文件中的输出脚时序相应的数据位上的“E”进行替换，得到修正后的输出脚时序。

优选的：步骤1中输入脚时序包括时钟时序、驱动数据时序、使能信号时序。

一种数字测试向量自动学习系统，包括上位机、图形发生器PG、驱动器DRIVER、比较器COMPARE、历史存储器HRAM，其中：