[发明专利]电子设备的自诊断装置

权利要求书

1.一种电子设备的自诊断装置，所述自诊断装置包括：

向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、对应于根据所述测试功能代码的功能测试的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、对应于根据DFT测试代码的DFT测试的DFT测试期望值、以及用于一般算术操作或被测器件(DUT)的操作的非测试功能代码；

测试数据存储器，其被配置为存储测试数据，该测试数据包括DFT测试代码结果值、测试功能代码结果值和非测试功能代码结果值，所述DFT测试代码结果值是根据所述DFT测试代码的DFT测试的结果，所述测试功能代码结果值是根据所述测试功能代码的功能测试的结果，所述非测试功能代码结果值是根据所述非测试功能代码的功能测试的结果；以及

安全区域测试控制器，其被配置为：从所述测试功能代码、所述DFT测试代码以及所述非测试功能代码中选择一个以选择测试模式；响应于所选择的测试模式控制施加到所述DUT的测试信号的环境变量，并测试所述DUT；将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较；并且将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。

2.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器将操作区段的部分区段周期性地分配到执行根据所述测试功能代码的测试模式的区段，所述部分区段存在于引导所述DUT的引导区段和终止所述DUT的操作的终止区段之间，以便控制在所述操作区段中执行根据所述测试功能代码的测试模式。

3.根据权利要求2所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器控制要累积在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值，该测试功能代码结果值是在测试模式中根据所述测试功能代码通过将构成施加到所述DUT的测试信号的环境变量(诸如电压、时钟频率和温度)从最小值改变到最大值而获得的，将累积在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值与存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值进行比较，确定所述测试功能代码正常运行的区段和所述测试功能代码异常运行的区段，并且通过将确定结果包括在比较结果信息中来输出所述确定结果。

4.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，通过外部设备允许输入存储在所述向量存储器中的所述测试功能代码、所述DFT测试代码、所述功能测试期望值、所述DFT测试期望值以及所述非测试功能代码。

5.根据权利要求2所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器包括：

自测试控制器，其被配置为针对所述DUT设置测试环境和测试周期，并根据所述测试数据的时间变化信息输出预先警告信息；

测试模式选择器，其被配置为针对所述DUT选择测试模式；

电压控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的电压；

时钟控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的时钟；

数据比较器，其被配置为将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较，并且将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较；以及

网络接口，其被配置为支持与外部设备的网络连接。

6.根据权利要求5所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器还包括电压寄存器，该电压寄存器被配置为存储电压环境变量，所述电压环境变量包括由所述电压控制器施加到所述DUT的电压的最小值和最大值，以及阶跃值，即，在所述电压从最小值逐渐增加到最大值的情况下、所述电压从最大值逐渐减小到最小值的情况下、以及对故障电压区段和操作电压区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位电压变化值。