[发明专利]电子设备的自诊断装置

说明书

本发明涉及一种电子设备的自诊断装置，其包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、与根据DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据；以及安全区域测试控制器，其被配置为选择测试模式，控制施加到DUT的测试信号的环境变量并测试DUT，将功能测试期望值与测试功能代码结果值进行比较，并将DFT测试期望值与DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。

技术领域

本发明涉及电子设备的自诊断装置。更具体地，本发明涉及一种测试技术，其能够通过分析被测器件(Device Under Test，DUT)(诸如半导体、电路模块或系统)随时间推移在安全操作区域中的特性变化来提高DUT的安全性，并且即使在DUT运行时也允许执行常规测试和周期性测试，这与现有技术不同。

背景技术

通常，对于装备有电气和电子电路的移动系统的功能安全，ISO 26262定义了在汽车安全完整性级别(Automotive Safety Integrity Level，ASIL)4上确保高安全性的标准。

为了实现这样的高安全性目标，需要具有能够在现场执行自诊断的测试电路。

图1是示出根据现有技术的美国专利号US 10,620,266B2的设备的配置的图，图2和图3是用于描述根据现有技术的操作的图。

参照图1至图3，根据现有技术，具有多个核心的设备包括自诊断控制电路，并且至少一个核心在使用地点根据外部测试指令将当前算术操作状态存储在存储器中，并且控制进入诊断睡眠模式。

根据现有技术，由于在进入测试模式的处理中需要停止核心的算术运算电路并在测试之后恢复核心的算术运算电路的处理，并且采用通过从外部接收测试模式进入指令来执行测试的被动方法，因此存在系统的操作效率降低的问题。

此外，现有技术具有不应用于需要高安全性的系统的问题，因为不可能知道电路功能的劣化和由于时间变化引起的质量的变化。

(现有技术文献)

(专利文献)

(专利文献1)美国专利号US 10,620,266B2(注册日期：2020年4月14日，标题为“诊断睡眠状态下现场自检的系统、设备和方法”)

发明内容

技术问题

本发明的技术目的在于提供一种设备，该设备被配置为确认诸如半导体器件、信息和通信技术(Information and Communications Technology，ICT)模块或系统的被测器件(DUT)的安全操作区域(region)，并分析该安全操作区域随时间推移的特性变化，从而提高装备有电气和电子电路的移动对象的安全性。

本发明的另一技术目的是允许即使在DUT运行时也执行常规测试和周期性测试，从而为安装在诸如自主车辆或无人机的移动对象上的电子设备的测试提供特别有效的解决方案。

解决问题的技术方案