[发明专利]一种LED晶粒的抽检方法和系统

权利要求书

1.一种LED晶粒的抽检方法，其特征在于，包括：

对LED晶圆进行测试，以获取LED晶粒的测试数据；

根据所述LED晶粒的测试数据，将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级，所述必抽等级对应的LED晶粒为必抽晶粒，所述LED晶粒来自至少一个晶圆；

按照分类等级将所述LED晶粒排列至不同的方片上，获得若干张成品方片；

从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；

对所述待抽检检方片上的第一抽检晶粒进行测试，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准；

若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；

若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒不满足标准，则将所有的成品方片扣留。

2.如权利要求1所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，根据抽检比例从所述待抽检方片中选出必抽方片，所述必抽方片的数量少于所述代抽检方片的数量，所述必抽方片上的LED晶粒为第二抽检晶粒，所述第二抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；

对所述必抽方片上的第二抽检晶粒进行测试，以判断所述第二抽检晶粒是否满足标准；

若所述必抽方片上的第二抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；

若所述必抽方片上的第二抽检晶粒不满足标准，则将所有成品方片扣留。

3.如权利要求1或2所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，所述LED晶圆中，LED晶粒数量最多的分类等级为必抽等级，所述LED晶圆至少含有一个必抽等级。

4.如权利要求2所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，所述抽检比例是指所述第二抽检晶粒中来自任一LED晶圆的必抽晶粒数与该LED晶圆的必抽晶粒总数比；

所述第二抽检晶粒中来自任一LED晶圆的必抽晶粒数a，抽检比例为k，该LED晶圆的必抽晶粒总数为b，若a≥b*k，则选取该待抽检方片为必抽方片。

5.如权利要求1所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，所述LED晶粒的测试数据包括电性数据、光学数据和外观数据。

6.如权利要求1所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，从所述成品方片中选出待抽检方片的方法包括：

根据必抽等级和必抽晶粒来选取待抽检方片，若所述成品方片上的LED晶粒包括至少来自一个LED晶圆的必抽晶粒，则选取该成品方片为待抽检方片。

7.一种LED晶粒的抽检系统，其特征在于，包括：

测试模块，用于测试LED晶圆上的LED晶粒，以获得所述LED晶粒的测试数据；

处理模块，用于对所述测试数据进行分析，以将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级；

分选模块，用于对所述LED晶粒进行分选排列，所述LED晶粒按照分类等级排列至不同的方片上，以获得若干张成品方片；

抽选模块，用于从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；

检测模块，用于对所述第一抽检晶粒进行检测，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准。

8.如权利要求7所述的LED晶粒的抽检系统，其特征在于，所述抽选模块还用于从所述待抽检方片中选出必抽方片，所述必抽方片的数量少于所述代抽检方片的数量，所述必抽方片上的LED晶粒为第二抽检晶粒，所述第二抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒。

9.如权利要求8所述的LED晶粒的抽检系统，其特征在于，所述检测模块还用于对所述第二抽检晶粒进行检测，以判断所述第二抽检晶粒是否满足标准。

10.如权利要求7所述的LED晶粒的抽检系统，其特征在于，所述LED晶圆中，LED晶粒数量最多的分类等级为必抽等级，所述LED晶圆至少含有一个必抽等级。