[发明专利]一种LED晶粒的抽检方法和系统

说明书

本发明公开了一种LED晶粒的抽检方法及系统，所述抽检方法包括：对LED晶圆进行测试，以获取LED晶粒的测试数据；根据所述LED晶粒的测试数据，将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级，所述必抽等级对应的LED晶粒为必抽晶粒，所述LED晶粒来自至少一个晶圆；按照分类等级将所述LED晶粒排列至不同的方片上，获得若干张成品方片；从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；对所述待抽检检方片上的第一抽检晶粒进行测试，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准。本发明抽检方法的抽检效率高，漏检率低。

技术领域

本发明涉及发光二极管技术领域，尤其涉及一种LED晶粒的抽检方法和系统。

背景技术

LED晶粒在完成光电参数分类后，需要按等级进行分选，其中，等级相同的LED晶粒置于同一张成品方片上，参见图1，图1中有6张成品方片，包括成品方片1、成品方片2、成品方片3、成品方片4、成品方片5和成品方片6，其中，每张成品方片上排列有多颗等级相同的LED晶粒，图1中的6张成品方片的LED晶粒的等级相同，成品方片上的数字代表LED晶粒来自哪一个晶圆，其中，数字相同的LED晶粒代表来自同一个晶圆，例如，1代表来自晶圆1，2代表来自晶圆2等，有的成品方片上的LED晶粒可能全部来自同一个晶圆，有的成品方片上的LED晶粒可能来自不同的晶圆。

LED晶粒在完成光电参数分类分选后，还需采用点测设备对LED晶粒进行抽测，以确保各晶粒的电性和光学特性与分类挑选的要求一致，同时保证LED产品出货的品质。

现有的一种抽测检验方法是：对每张成品方片进行抽测，例如图1中的6张成品方片都进行抽测，这个方法需要耗费大量的人力和机台，制造成本高。

现有的另一种抽测检验方法是：按比例选取成品方片进行抽测，例如图1中的6张成品方片按比例抽取其中1张或2张成品方片进行抽测，这个方法容易出现漏抽晶圆片，导致品质异常。例如图1中的6张成品方片，若随机抽取了成品方片1和成品方片3进行抽测，由于成品方片1和成品方片3的LED晶粒没有来自晶圆3的晶粒，则晶圆3的LED晶粒就会出现漏检；若随机抽取了成品方片4和成品方片5进行抽测，由于成品方片4和成品方片5的LED晶粒没有来自晶圆1的晶粒，则晶圆1的LED晶粒就会出现漏检；若随机抽取了成品方片1和成品方片5进行抽测，由于成品方片1和成品方片5的LED晶粒没有来自晶圆2的晶粒，则晶圆2的LED晶粒就会出现漏检。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种LED晶粒的抽检方法，抽检效率高，漏检率低，抽检的晶粒包括来自任一LED晶圆的LED晶粒。

本发明还要解决的技术问题在于，提供一种LED晶粒的抽检系统，结构简单，抽检效率高，漏检率低，抽检的晶粒包括来自任一LED晶圆的LED晶粒。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种LED晶粒的抽检方法，包括：

对LED晶圆进行测试，以获取LED晶粒的测试数据；

根据所述LED晶粒的测试数据，将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级，所述必抽等级对应的LED晶粒为必抽晶粒，所述LED晶粒来自至少一个晶圆；

按照分类等级将所述LED晶粒排列至不同的方片上，获得若干张成品方片；

从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；

对所述待抽检检方片上的第一抽检晶粒进行测试，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准；

若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；

若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒不满足标准，则将所有的成品方片扣留。