[发明专利]测量系统及测量DOI分辨率的方法

权利要求书

1.一种测量系统，包括准直装置，其特征在于，还包括支撑装置和移动装置；其中，

准直装置，包括第一载物台，所述第一载物台用于承载电路板、放射源和准直晶体；

支撑装置，包括第二载物台，所述第二载物台用于承载待测探测器；

移动装置，用于承载所述准直装置和所述支撑装置，并使所述准直装置和所述支撑装置在移动装置上产生相对位移。

2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述准直装置还包括：

位移台，用于提供在一个或多个方向上的位移；

所述第一载物台固定于所述位移台上，所述位移台每次运动时所述放射源和所述准直晶体之间的相对位置不变。

3.根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述位移台包括：

第一方向位移部，沿第一方向滑动；

第二方向位移部，沿第二方向滑动，所述第二方向不同于所述第一方向；

第二连接件，所述第二连接件连接于所述第一方向位移部和所述第二方向位移部之间。

4.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述第一方向位移部上设置有用于测量沿所述第一方向移动距离的刻度。

5.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述第二方向位移部上设置有用于测量沿所述第二方向移动距离的刻度。

6.根据权利要求2所述的准直装置，其特征在于，所述准直装置还包括第一连接件，所述第一载物台固定于所述第一连接件上，所述第一连接件固定于所述位移台上。

7.根据权利要求6所述的准直装置，其特征在于，所述第一连接件包括：

第一侧壁，固定于所述位移台；

第一底壁，所述第一载物台固定于所述第一底壁上。

8.根据权利要求7所述的准直装置，其特征在于，所述第一连接件的第一底壁上设置有凹槽固定孔，用于固定所述第一载物台。

9.根据权利要求6所述的准直装置，其特征在于，所述第一连接件包括：

第一侧壁，固定于所述位移台；

第一顶壁，设置有至少两个长型通孔，所述第一载物台固定于所述第一顶壁上，并通过所述长型通孔调节所述第一载物台的位置。

10.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述第一载物台包括：

电路板固定部，用于固定接收闪烁脉冲的电路板；

射源放置部，用于承载所述放射源；

准直轨道，所述电路板固定部设置于所述准直轨道的第一端，所述射源放置部设置于所述准直轨道与所述第一端相对的第二端。

11.根据权利要求10所述的测量系统，其特征在于，所述准直轨道上设置有用于承载所述准直晶体的准直槽，所述准直槽连通所述第一端和第二端。

12.根据权利要求11所述的准直装置，其特征在于，所述准直槽的深度相同。

13.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述第二载物台包括：

底板，第一侧板和第二侧板；

所述第一侧板固定于所述底板上，所述第二侧板活动连接或者固定于所述底板上，所述待测探测器固定于所述第一侧板与所述第二侧板之间。

14.根据权利要求13所述的测量系统，其特征在于，所述第一侧板和所述第二侧板上均设置有多个限位孔，用于所述待测探测器的限位。

15.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述移动装置包括：

至少一个滑块，所述第一载物台或者所述第二载物台直接或间接固定在所述滑块上，

与所述滑块配合的导轨，所述滑块沿所述导轨滑动。