[发明专利]基于FPGA的内存修复系统在审

专利信息
申请号: 202111205732.0 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN113900847A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 许小峰 申请(专利权)人: 深圳市金泰克半导体有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F11/10;G06F8/61
代理公司: 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 代理人: 蒋学超
地址: 518118 广东省深圳市坪*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 fpga 内存 修复 系统
【权利要求书】:

1.一种基于FPGA的内存修复系统,其特征在于,包括:

内部存储器,用于存储数据;

缺陷管理控制器,与所述内部存储器连接,所述缺陷管理控制器为将实现内存缺陷管理的预设编码烧录到FPGA平台得到的,所述缺陷管理控制器用于测试所述内部存储器中的内存颗粒,并修复指示错误的目标内存颗粒。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述缺陷管理控制器,包括:

可编程逻辑控制端,与所述内部存储器连接,用于在接收到测试指令的情况下,按照所述测试指令指示的目标测试模式对所述内部存储器进行测试,其中,所述目标测试模式包括读写测试、容量测试、等待时间测试及带宽测试中的至少一种。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述缺陷管理控制器,还包括:

处理系统控制端,与所述可编程逻辑控制端连接,用于从多个测试模式中确定所述目标测试模式,并向所述可编程逻辑控制端发送所述测试指令。

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,

所述可编程逻辑控制端,还用于采集所述内部存储器的测试数据,并将所述测试数据发送给所述处理系统控制端;

所述处理系统控制端,还用于在接收到所述测试数据的情况下,根据所述测试数据确定出现错误的所述目标内存颗粒。

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,

所述处理系统控制端,还用于生成指示修复所述目标内存颗粒的修复指令,并将所述修复指令发送给所述可编程逻辑控制端;

所述可编程逻辑控制端,还用于在接收到所述修复指令的情况下,对所述目标内存颗粒执行修复操作。

6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述可编程逻辑控制端对所述目标内存颗粒执行修复操作包括:

对所述目标内存颗粒预充电,并关闭所述目标内存颗粒的数据总线反转功能和循环冗余校验功能;

将目标模式寄存器的预设标志位设置为触发状态;

在所述目标模式寄存器完成配置的情况下,将所述目标内存颗粒的地址切换为目标备用颗粒的有效地址;

重置所述目标模式寄存器的所述预设标志位。

7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述可编程逻辑控制端,还包括:

至少两个子控制单元,其中,不同子控制单元分别连接不同的内部存储器,不同的内部存储器之间相互独立。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述子控制单元与所述内部存储器之间通过导电触片连接。

9.根据权利要求1至8任一所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:

应用主机,与所述内部存储器和所述缺陷管理控制器连接,用于将应用数据存储至所述内部存储器,以及接收并展示所述缺陷管理控制器发送的测试数据。

10.根据权利要求1至8任一所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:

功能扩展接口,设置于所述FPGA平台上,与所述缺陷管理控制器连接,所述功能扩展接口用于接入扩展功能模块。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市金泰克半导体有限公司,未经深圳市金泰克半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111205732.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top