[发明专利]基于FPGA的内存修复系统在审
申请号: | 202111205732.0 | 申请日: | 2021-10-15 |
公开(公告)号: | CN113900847A | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 许小峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市金泰克半导体有限公司 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07;G06F11/10;G06F8/61 |
代理公司: | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人: | 蒋学超 |
地址: | 518118 广东省深圳市坪*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 fpga 内存 修复 系统 | ||
1.一种基于FPGA的内存修复系统,其特征在于,包括:
内部存储器,用于存储数据;
缺陷管理控制器,与所述内部存储器连接,所述缺陷管理控制器为将实现内存缺陷管理的预设编码烧录到FPGA平台得到的,所述缺陷管理控制器用于测试所述内部存储器中的内存颗粒,并修复指示错误的目标内存颗粒。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述缺陷管理控制器,包括:
可编程逻辑控制端,与所述内部存储器连接,用于在接收到测试指令的情况下,按照所述测试指令指示的目标测试模式对所述内部存储器进行测试,其中,所述目标测试模式包括读写测试、容量测试、等待时间测试及带宽测试中的至少一种。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述缺陷管理控制器,还包括:
处理系统控制端,与所述可编程逻辑控制端连接,用于从多个测试模式中确定所述目标测试模式,并向所述可编程逻辑控制端发送所述测试指令。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,
所述可编程逻辑控制端,还用于采集所述内部存储器的测试数据,并将所述测试数据发送给所述处理系统控制端;
所述处理系统控制端,还用于在接收到所述测试数据的情况下,根据所述测试数据确定出现错误的所述目标内存颗粒。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,
所述处理系统控制端,还用于生成指示修复所述目标内存颗粒的修复指令,并将所述修复指令发送给所述可编程逻辑控制端;
所述可编程逻辑控制端,还用于在接收到所述修复指令的情况下,对所述目标内存颗粒执行修复操作。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述可编程逻辑控制端对所述目标内存颗粒执行修复操作包括:
对所述目标内存颗粒预充电,并关闭所述目标内存颗粒的数据总线反转功能和循环冗余校验功能;
将目标模式寄存器的预设标志位设置为触发状态;
在所述目标模式寄存器完成配置的情况下,将所述目标内存颗粒的地址切换为目标备用颗粒的有效地址;
重置所述目标模式寄存器的所述预设标志位。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述可编程逻辑控制端,还包括:
至少两个子控制单元,其中,不同子控制单元分别连接不同的内部存储器,不同的内部存储器之间相互独立。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述子控制单元与所述内部存储器之间通过导电触片连接。
9.根据权利要求1至8任一所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
应用主机,与所述内部存储器和所述缺陷管理控制器连接,用于将应用数据存储至所述内部存储器,以及接收并展示所述缺陷管理控制器发送的测试数据。
10.根据权利要求1至8任一所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
功能扩展接口,设置于所述FPGA平台上,与所述缺陷管理控制器连接,所述功能扩展接口用于接入扩展功能模块。
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