[发明专利]电连接构造在审
申请号: | 202111225174.4 | 申请日: | 2021-10-21 |
公开(公告)号: | CN114520436A | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 松本博幸;早川昌德;井泽一哉 | 申请(专利权)人: | 日本压着端子制造株式会社 |
主分类号: | H01R13/627 | 分类号: | H01R13/627;H01R13/24;H01R13/641;H01R13/66 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 蔡丽娜;崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连接 构造 | ||
1.一种电连接构造,具备:基材;连接器,其搭载于所述基材并与所述基材电连接;以及配对方连接器,其相对于所述连接器在嵌合和脱离方向上嵌合以及脱离,通过嵌合而与所述连接器电连接,其中,
所述电连接构造具备半嵌合检测机构,该半嵌合检测机构用于检测所述配对方连接器是否以正常的嵌合状态嵌合,所述半嵌合检测机构包括:半嵌合检测部,其设置于所述连接器;以及导电性的短路部件,其设置于所述配对方连接器,
所述半嵌合检测部包括:
导电部件,其与所述基材电连接,与所述配对方连接器的短路部件接触而将所述短路部件与所述基材电连接;以及
导电性的检查部件,其具有与所述短路部件接触的接触部,所述检查部件相对于所述导电部件以非接触状态设置,
在所述配对方连接器与所述连接器以半嵌合状态嵌合时,所述短路部件与所述检查部件不接触,从而能够检测半嵌合状态,
所述连接器具有卡合部,该卡合部通过与所述短路部件的配对方卡合部卡合来抑制所述配对方连接器的脱离,
在所述配对方连接器以正常的嵌合状态与所述连接器嵌合时,所述配对方卡合部与所述卡合部卡合并且与所述接触部接触,且所述短路部件与所述导电部件接触,从而所述检查部件经由所述短路部件而与所述导电部件短接。
2.根据权利要求1所述的电连接构造,其中,
所述导电部件构成与所述配对方连接器嵌合的嵌合部的至少一部分。
3.根据权利要求1所述的电连接构造,其中,
在处于正常的嵌合状态时,所述接触部与所述配对方卡合部相接触的接触部分、以及所述导电部件与所述短路部件相接触的接触部分沿嵌合和脱离方向分离地排列。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的电连接构造,其中,
所述检查部件沿嵌合和脱离方向延伸,所述检查部件的嵌合方向侧的端部与所述基材电连接。
5.根据权利要求4所述的电连接构造,其中,
所述接触部设置于所述检查部件的脱离方向侧的端部,
所述导电部件具有:
贯通孔,其设置成位于所述连接器的壳体的内表面,与所述接触部对应地设置;以及
抵接部,其相对于所述贯通孔在嵌合方向侧和脱离方向侧中的至少一方与所述短路部件抵接,
所述短路部件是沿嵌合和脱离方向延伸的悬臂式的弹性部件,
所述短路部件相对于所述配对方卡合部在嵌合方向侧和脱离方向侧中的至少一方具有短路部,该短路部在正常的嵌合状态时与所述抵接部抵接,
在所述配对方连接器沿嵌合方向移动而与所述连接器嵌合时,所述短路部件被所述导电部件按压而弹性变形,从而所述配对方卡合部与所述导电部件的相对于所述贯通孔位于脱离方向侧的部分滑动接触,在所述配对方连接器以正常的嵌合状态与所述连接器嵌合时,所述配对方卡合部弹性恢复成位于所述贯通孔内而与所述接触部接触,且所述短路部与所述抵接部接触,由此,所述检查部件经由所述短路部件而与所述导电部件短接。
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