[发明专利]电连接构造

说明书

本发明提供电连接构造，能检测半嵌合状态，具备基材、连接器、配对方连接器和半嵌合检测机构，半嵌合检测机构包括设于连接器的半嵌合检测部和设于配对方连接器的导电性短路部件。半嵌合检测部包括：导电部件，与配对方连接器的短路部件接触而将短路部件与基材电连接；和导电性检查部件，具有与短路部件接触的接触部，相对导电部件以非接触状态设置。配对方连接器与连接器以半嵌合状态嵌合时，短路部件与检查部件不接触而能检测半嵌合状态。连接器具有与短路部件的配对方卡合部卡合的卡合部。配对方连接器以正常嵌合状态与连接器嵌合时，配对方卡合部与卡合部卡合并与接触部接触，且短路部件与导电部件接触，检查部件经由短路部件与导电部件短接。

技术领域

本发明涉及一种电连接构造。

背景技术

在基于连接器的电连接构造中，大致而言，通过连接器以及配对方连接器相互嵌合，而使得连接器与配对方连接器电连接。连接器以及配对方连接器例如以比正规的嵌合长度稍短的嵌合长度嵌合等、未以正常的嵌合状态嵌合的状态被称为半嵌合状态。连接器以及配对方连接器在半嵌合状态下会受到电连接可靠性降低等不希望的影响。但是，半嵌合状态有时在外观上不能与正常的嵌合状态区分开。因此，谋求能够检测半嵌合状态的连接器。专利文献1公开了一种电连接构造，该电连接构造具备：基板、搭载于基板的连接器、以及与连接器嵌合的配对方连接器，该电连接构造具备半嵌合检测机构，该半嵌合检测机构用于电检测连接器和配对方连接器是否在正规的嵌合位置与连接器嵌合。在专利文献1的电连接构造中，半嵌合检测机构由设置于连接器的半嵌合检测部和设置于配对方连接器的导电性的短路部件构成。半嵌合检测部由分开配置的导电性的一对检查部件构成。一对检查部件构成为，在配对方连接器在连接器中未配置于正规的嵌合位置时，为绝缘状态，在配对方连接器配置于正规的嵌合位置时，经由配对方连接器的检查部件而成为短路状态。根据专利文献1的电连接构造，根据一对检查部件有无短路，能够电检测配对方连接器是不是没有以半嵌合状态与连接器嵌合。

现有技术文献

专利文献1：日本特开2019-40746号公报

发明内容

发明要解决的课题

在基于连接器的电连接构造中，大致而言，连接器与配对方连接器以正常的嵌合状态相互卡合，从而抑制了连接器与配对方连接器相互脱离，从而保持电连接。在专利文献1的电连接构造中，配对方连接器是与短路部件分体的部件，设置有与连接器卡合的配对方卡合部。因此，例如在短路部件因初始不良等相对于正规的位置向远离基板的方向发生了变形的情况下，尽管配对方卡合部处于未与连接器卡合的半嵌合状态，但短路部件与一对检查部件短接，有可能出现配对方连接器处于正常的嵌合状态的错误检测结果。

因此，本发明鉴于这样的问题点，其目的在于提供一种能够可靠地检测半嵌合状态的电连接构造。

用于解决课题的手段

本发明的一实施方式的电连接构造具备：基材；连接器，其搭载于所述基材并与所述基材电连接；以及配对方连接器，其相对于所述连接器在嵌合和脱离方向上嵌合以及脱离，通过嵌合而与所述连接器电连接，其中，所述电连接构造具备半嵌合检测机构，该半嵌合检测机构用于检测所述配对方连接器是否以正常的嵌合状态嵌合，所述半嵌合检测机构包括：半嵌合检测部，其设置于所述连接器；以及导电性的短路部件，其设置于所述配对方连接器，所述半嵌合检测部包括：导电部件，其与所述基材电连接，与所述配对方连接器的短路部件接触而将所述短路部件与所述基材电连接；以及导电性的检查部件，其具有与所述短路部件接触的接触部，所述检查部件相对于所述导电部件以非接触状态设置，在所述配对方连接器与所述连接器以半嵌合状态嵌合时，所述短路部件与所述检查部件不接触，从而能够检测半嵌合状态，所述连接器具有卡合部，该卡合部通过与所述短路部件的配对方卡合部卡合来抑制所述配对方连接器的脱离，在所述配对方连接器以正常的嵌合状态与所述连接器嵌合时，所述配对方卡合部与所述卡合部卡合并且与所述接触部接触，且所述短路部件与所述导电部件接触，从而所述检查部件经由所述短路部件而与所述导电部件短接。