[发明专利]波长渐变滤光片自动测试系统及其测试方法

权利要求书

1.波长渐变滤光片自动测试系统，其特征在于，包括基座（11）、固定柱（12）、光源（1）、光谱仪（2）、计算机（3）、步进电机控制器（13）、光纤对准组件（5）、光纤准直器（6）、狭缝光阑缝宽调整组件（7）、狭缝光长度限制光阑组件（8）、光纤（9）及样品微位移精确控制组件（10）；

所述固定柱（12）垂直固定设于基座（11）之上；所述光纤对准组件（5）、狭缝光阑缝宽调整组件（7）及狭缝光长度限制光阑组件（8）的一端与固定柱（12）垂直固定相接；

所述光纤对准组件（5）包括上部光纤对准组件单元（5a）及下部光纤对准组件单元（5b）;所述光纤准直器（6）纵向固定设于光纤对准组件（5）中的光纤座（501）上；

所述狭缝光阑缝宽调整组件（7）与狭缝光长度限制光阑组件（8）位于上部光纤对准组件单元（5a）与下部光纤对准组件单元（5b）之间；

所述样品微位移精确控制组件（10）固定设于基座（11）之上；

所述光源（1）发出的光信号经光纤（9）传至上部光纤对准组件单元（5a）；所述下部光纤对准组件单元（5b）接收的光信号经光纤（9）传至光谱仪（2）；所述计算机（3）的信号传输端口经步进电机控制器与样品微位移精确控制组件（10）中的步进电机（101）的信号传输端口相接；

所述光谱仪（2）的信号传输端口与计算机（3）的信号传输端口相接。

2.根据权利要求1所述波长渐变滤光片自动测试系统，其特征在于：所述上部光纤对准组件单元（5a）及下部光纤对准组件单元（5b）分别包括光纤座（5a）及4轴可调整的光纤座（502）。

3.根据权利要求2所述波长渐变滤光片自动测试系统，其特征在于：所述狭缝光阑缝宽调整组件（7）与光路对应位置设有宽度动态可调的窄缝（701）。

4.根据权利要求3所述波长渐变滤光片自动测试系统，其特征在于：所述狭缝光长度限制光阑组件（8）与光路对应位置设有光阑圆孔（801）。

5.根据权利要求4所述波长渐变滤光片自动测试系统，其特征在于：所述样品微位移精确控制组件（10）包括样品起始位置微定位组件（102）、丝杠导轨移动组件（103）、步进电机（101）、样品放置座（104）以及样品托（105）;所述样品起始位置微定位组件（102）可实现X轴、Y轴方向微移动；所述丝杠导轨移动组件（103）的工作端与固定样品放置座（104）的样品起始位置微定位组件（102）固定相接，以实现样品在Y轴方向移动；所述步进电机（101）驱动丝杠导轨移动组件（103）Y轴方向步进移动；所述样品托（105）置于样品放置座（104）之上，可实现X轴方向滑动。

6.一种如权利要求1～5任一所述波长渐变滤光片自动测试系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

A、打开光源（1）、光谱仪（2）、计算机（3），调整上部光纤对准组件单元（5a）与下部光纤对准组件单元（5b），将光的发射端与接收端对准；

B、通过Y轴方向微位移移动装置调整狭缝光阑缝宽调整组件（7）的狭缝（701）宽度；通过光阑圆孔（801）限制狭缝光的长度，获得所需的狭缝光阑；

C、将待测样品放置在样品托（105）内；将样品托（105）放置在样品放置座（104）上，并滑动到样品测试区；通过步进电机（101）或Y轴手动旋钮将样品由丝杠导轨移动组件（103）移动到狭缝光测试位置；再通过样品起始位置微定位组件（102）的X轴、Y轴定位样品的起始测试点；

D、通过计算机（3）设定待测样品的步长位移，打开测试软件，设置好参数，开始运行；计算机（3）将样品步长位移指令送至步进电机控制器；通过步进电机（101）控制样品在丝杠导轨移动组件（103）中丝杠导轨上移动相等的位移量，每移动一次，测试一次光谱，并采集数据，直到完成测试范围，将所采集的数据存储到计算机，然后进行分析处理。