[发明专利]波长渐变滤光片自动测试系统及其测试方法

说明书

本发明属滤光片测试领域，尤其涉及一种波长渐变滤光片自动测试系统及其测试方法，包括光源（1）、光谱仪（2）、计算机（3）、步进电机控制器、光纤对准组件（5）、光纤准直器（6）、狭缝光阑缝宽调整组件（7）、狭缝光长度限制光阑组件（8）、光纤（9）及样品微位移精确控制组件（10）；光纤对准组件（5）包括上部光纤对准组件单元（5a）及下部光纤对准组件单元（5b）。本发明能精确调整所需狭缝宽度，有效减小测试光对波长渐变滤光片相邻位置光谱的相互交叉渗透的影响，既能固定滤光片又能避免滤光片表面摩擦导致损伤，可将样品精确定位到起始测试点。

技术领域

本发明属滤光片测试领域，尤其涉及一种波长渐变滤光片自动测试系统及其测试方法。

背景技术

波长渐变滤光片是一种光谱特性沿特定方向随滤光片几何位置改变而改变的光学薄膜器件。以波长渐变滤光片为核心分光元件的光谱仪器，广泛应用于野外探测、大气监测、食品安全监测、生物流体分析和多/高/超光谱成像等多个领域，因此针对波长渐变滤光片的研究具有重要的意义。该滤光片的光谱特性是相对于波长与位置的二维分布，因此在测量过程中易导致相邻光谱的相互交叉与渗透。普通的测试方法对于测试光斑的形状控制和对滤光片的位移控制都不精确，导致测试透射光谱的半波带宽和透射率测量都不准确，不能反映波长渐变滤光片的真实光谱特性，影响对其使用的评价。

发明内容

本发明旨在克服现有技术的不足之处而提供一种能精确调整所需狭缝宽度，有效减小测试光对波长渐变滤光片相邻位置光谱的相互交叉渗透的影响，既能固定滤光片又能避免滤光片表面摩擦导致损伤，可将样品精确定位到起始测试点的波长渐变滤光片自动测试系统及其测试方法。

为解决上述技术问题，本发明是这样实现的：

波长渐变滤光片自动测试系统，包括基座、固定柱、光源、光谱仪、计算机、步进电机控制器、光纤对准组件、光纤准直器、狭缝光阑缝宽调整组件、狭缝光长度限制光阑组件、光纤及样品微位移精确控制组件；

所述固定柱垂直固定设于基座之上；所述光纤对准组件、狭缝光阑缝宽调整组件及狭缝光长度限制光阑组件的一端与固定柱垂直固定相接；

所述光纤对准组件包括上部光纤对准组件单元及下部光纤对准组件单元;所述光纤准直器纵向固定设于光纤对准组件中的光纤座上；

所述狭缝光阑缝宽调整组件与狭缝光长度限制光阑组件位于上部光纤对准组件单元与下部光纤对准组件单元之间；

所述样品微位移精确控制组件固定设于基座之上；

所述光源发出的光信号经光纤传至上部光纤对准组件单元；所述下部光纤对准组件单元接收的光信号经光纤传至光谱仪；所述计算机的信号传输端口经步进电机控制器与样品微位移精确控制组件中的步进电机的信号传输端口相接；

所述光谱仪的信号传输端口与计算机的信号传输端口相接。

进一步地，本发明所述上部光纤对准组件单元及下部光纤对准组件单元分别包括光纤座及4轴可调整的光纤座。

进一步地，本发明所述狭缝光阑缝宽调整组件与光路对应位置设有宽度动态可调的窄缝。

进一步地，本发明所述狭缝光长度限制光阑组件与光路对应位置设有光阑圆孔。

进一步地，本发明所述样品微位移精确控制组件包括样品起始位置微定位组件、丝杠导轨移动组件、步进电机、样品放置座以及样品托;所述样品起始位置微定位组件可实现X轴、Y轴方向微移动；所述丝杠导轨移动组件的工作端与固定样品放置座的样品起始位置微定位组件固定相接，以实现样品在Y轴方向移动；所述步进电机驱动丝杠导轨移动组件Y轴方向步进移动；所述样品托置于样品放置座之上，可实现X轴方向滑动。

上述波长渐变滤光片自动测试系统的测试方法，包括如下步骤：

A、打开光源、光谱仪、计算机，调整上部光纤对准组件单元与下部光纤对准组件单元，将光的发射端与接收端对准；