[发明专利]一种高介电化合物及其制备方法、环氧高介电材料及其制备方法、半导体器件有效

专利信息
申请号: 202111230897.3 申请日: 2021-10-21
公开(公告)号: CN113979902B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 刘捷;李倩倩;于淑会;孙蓉 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: C07C317/28 分类号: C07C317/28;C07C315/04;C08G59/50;C08G59/22;C08G59/24;C08J3/28;C09D163/00;H01L29/51;C08L63/00
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 孟洁
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 高介电 化合物 及其 制备 方法 环氧高介电 材料 半导体器件
【说明书】:

发明提供了一种高介电化合物及其制备方法、环氧高介电材料及其制备方法、半导体器件,高介电化合物的化学式为其中,R为中的一种。本发明的环氧高介电材料的制备方法,以高介电化合物作为光交联剂,而高介电化合物是采用具有高偶极距基团的双(乙烯基磺酰)甲烷等改性的功能分子既可以提高介电常数,同时也可以使得环氧高介电材料拥有光可控的自修复能力,延长材料的使用寿命。本发明得到的环氧高介电材料因为具有高介电常数而获得高电容,并且在不改变电学厚度的同时漏电流又能够得到明显的改善。

技术领域

本发明涉及环氧电介质材料技术领域,尤其涉及一种高介电化合物及其制备方法、环氧高介电材料及其制备方法、半导体器件。

背景技术

随着电子集成化程度越来越高,半导体器件特征尺寸的也在不断减小。传统SiO2栅介质减薄到2nm时会导致栅极漏电流急剧增大,器件的使用性能会大大受到影响,所以为了满足发展的要求以及CMOS技术长远发展,我们需要寻求替代SiO2的新型栅介质材料。以此来减少器件的隧穿电流和增加CMOS技术的可靠性。近年来,一些高k栅介质薄膜材料受到国内外学者广泛的关注,并且,聚合物基材料因为可以通过改变分子结构来设计材料的性能,而逐渐进入大众视野。

目前的聚合物基材料存在一些缺陷,比如介电常数较低,并且材料在使用过程中被磨损后漏电流增加,材料的使用寿命大大降低。

基于目前的聚合物基材料存在的技术缺陷有必要对此进行改进。

发明内容

有鉴于此,本发明提出了一种高介电化合物及其制备方法、环氧高介电材料的制备方法、半导体器件,以解决或至少部分解决现有技术中存在的技术问题。

第一方面,本发明提供了一种高介电化合物,所述高介电化合物的化学式为

其中,R为中的一种。

第二方面,本发明还提供了一种所述的高介电化合物的制备方法,包括以下步骤:

将蒽酮和N-Boc-3-氨基丙基溴进行亲核加成反应,再经过脱Boc反应后得到第一产物;

将第一产物与R所对应的化合物进行加成反应,即得高介电化合物;

其中,第一产物的化学式为

若R为则R所对应的化合物为双(乙烯基磺酰)甲烷;

若R为则R所对应的化合物为二乙烯基砜;

若R为则R所对应的化合物为双(乙烯基磺酰)乙烷。

优选的是,所述的高介电化合物的制备方法,将蒽酮和N-Boc-3-氨基丙基溴进行亲核加成反应具体反应条件为:以四氢呋喃作为反应体系的溶剂,KOH作催化剂,于62~66℃下加热回流20~24h。

优选的是,所述的高介电化合物的制备方法,所述脱Boc反应后得到第一产物具体为:将蒽酮和N-Boc-3-氨基丙基溴进行亲核加成反应得到的反应产物置于二氯甲烷溶解,然后加入盐酸甲醇溶液,洗涤后,旋干后即得第一产物。

优选的是,所述的高介电化合物的制备方法,将第一产物与R所对应的化合物进行加成反应具体为:将第一产物与R所对应的化合物加入至甲苯中,加热回流后,置于醇溶剂中沉淀,洗涤后即得高介电化合物。

优选的是,所述的高介电化合物的制备方法,所述蒽酮和N-Boc-3-氨基丙基溴的摩尔比为1:(1.2~1.5),所述第一产物与R所对应的化合物的摩尔比为1:(2~2.5)。

第三方面,本发明还提供了一种环氧高介电材料,包括环氧树脂、所述的制备方法制备得到的第一产物以及高介电化合物。

第四方面,本发明还提供了一种所述的环氧高介电材料的制备方法,包括以下步骤:

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