[发明专利]一种电容式指纹识别芯片大板FT测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种电容式指纹识别芯片大板FT测试系统，其特征在于，包括芯片大板、自动测试设备以及PC主机；

所述芯片大板固定在所述自动测试设备上，用于放置n个待测芯片；所述自动测试设备与所述PC主机通信连接；

所述自动测试设备连接有m个测试板，m个所述测试板均与所述PC主机相连；

在所述PC主机的控制下，m个所述测试板一次与n中的m个所述待测芯片连接，并对连接的所述待测芯片进行分时测试。

2.根据权利要求1所述的电容式指纹识别芯片大板FT测试系统，其特征在于，所述自动测试设备还包括多个测试座；

m个所述测试板均与所述测试座固定连接，且每个所述测试板连接至少一个所述测试座；

每个所述测试座能够与一个所述待测芯片的引脚连接。

3.根据权利要求2所述的电容式指纹识别芯片大板FT测试系统，其特征在于，所述自动测试设备还包括导电橡胶头、第一运动机构以及第二运动机构；

所述第一运动机构与所述导电橡胶头固定连接，用于驱动所述导电橡胶头上下移动，向下移动时所述导电橡胶头能够与所述待测芯片接触；

所述第二运动机构与所述芯片大板相连，用于驱动所述芯片大板上下移动或左右水平移动，向下移动时所述测试座能够与所述待测芯片的引脚连接。

4.一种电容式指纹识别芯片大板FT测试方法，其特征在于，通过权利要求1-3任一项所述的电容式指纹识别芯片大板FT测试系统进行如下测试：

S10、将m个所述测试板与n中的m个所述待测芯片进行连接；

S11、对与m个所述测试板连接的所述待测芯片进行开路与短路测试，将不存在开路或短路的所述待测芯片标识为合格；否则，将存在开路或短路的所述待测芯片标识为不合格；

S12、对开路与短路测试合格的所述待测芯片进行IDLE电流测试，将IDLE电流落入第一设定范围的所述待测芯片标识为合格；否则，将IDLE电流超出所述第一设定范围的所述待测芯片标识为不合格；

S13、分时采集IDLE电流测试合格的所述待测芯片对应的白图，将所述白图中不存在黑色坏点的所述待测芯片标识为合格；否则，将所述白图中存在黑色坏点的所述待测芯片标识为不合格；

S14、分时采集白图测试合格的所述待测芯片对应的黑图，将所述黑图中不存在白色坏点的所述待测芯片标识为合格；否则，将所述黑图中存在白色坏点的所述待测芯片标识为不合格；

S15、分时采集黑图测试合格的所述待测芯片对应的灰图，将所述灰图的平整度和封装厚度均落入第二设定范围的所述待测芯片标识为合格；否则，将所述灰图的平整度或封装厚度超出所述第二设定范围的所述待测芯片标识为不合格；

S16、对灰图测试合格的所述待测芯片进行capture电流测试，将capture电流落入第三设定范围的所述待测芯片标识为合格；否则，将capture电流超出所述第三设定范围的所述待测芯片标识为不合格；输出测试结果；

S17、将m个所述测试板与其连接的m个所述待测芯片分离，返回步骤S10，对下一组m个未测试的所述待测芯片进行测试。

5.根据权利要求4所述的电容式指纹识别芯片大板FT测试方法，其特征在于，所述自动测试设备包括导电橡胶头、多个测试座、第一运动机构以及第二运动机构；

步骤S10包括如下步骤：

S100、将待测的所述芯片大板放置到托盘中；

S101、启动所述自动测试设备，所述自动测试设备向所述PC主机反馈测试开始信号；

S102、所述自动测试设备接收所述PC主机发送的启动第二运动机构的指令，启动所述第二运动机构将所述芯片大板下移，使所述芯片大板上的待测芯片的引脚与所述测试座的弹簧顶针连接；

S103、每个所述测试板将其对应的ID号反馈给所述PC主机。