[发明专利]自动测试方法、系统、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111239436.2 申请日: 2021-10-25
公开(公告)号: CN113971128A 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 史爱国 申请(专利权)人: 展讯半导体(南京)有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 罗朗
地址: 211899 江苏省南京市高新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 自动 测试 方法 系统 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种自动测试方法,其特征在于,所述自动测试方法包括以下步骤:

构建故障数据库,所述故障数据库用于存储目标系统的历史故障信息;

在对所述目标系统进行测试的过程中,响应于生成故障信息,若所述故障数据库中存在有与所述故障信息相匹配的历史故障信息,则获取所述历史故障信息的处理状态;

若所述处理状态为已处理,则提交所述故障信息,并将所述故障信息存储至所述故障数据库;

若所述处理状态为未处理,则发送处理提醒信息。

2.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤包括:

获取当前测试阶段的第一预设时间;

若所述当前测试阶段的测试时间大于或等于所述第一预设时间,则生成第一故障信息。

3.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤包括:

获取当前测试阶段与下一测试阶段之间第二预设时间;

若所述当前测试阶段执行完毕,超过所述第二预设时间未开始执行所述下一测试阶段,则生成第二故障信息。

4.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤包括:

获取当前测试阶段的预设测试标准;

若所述当前测试阶段的测试结果不符合所述预设测试标准,则生成第三故障信息。

5.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤后还包括:

获取当前测试阶段对应的负责用户;

发送所述故障信息至所述负责用户。

6.如权利要求5所述的自动测试方法,其特征在于,所述获取当前测试阶段对应的负责用户的步骤包括:

若所述当前测试阶段为用例测试阶段;

则获取与当前测试的用例对应的负责用户;

发送所述故障信息至所述负责用户。

7.如权利要求1-6任意一项所述的自动测试方法,其特征在于,所述对所述目标系统进行测试的步骤前还包括:

对每一测试阶段配置对应的目标信息,所述目标信息包括第一预设时间、第二预设时间、负责用户和/或预设测试标准。

8.一种自动测试系统,其特征在于,所述自动测试系统包括数据库构建模块、故障信息匹配模块、故障信息提交模块及故障信息提醒模块;

所述数据库构建模块用于构建故障数据库,所述故障数据库用于存储目标系统的历史故障信息;

所述故障信息匹配模块用于在对所述目标系统进行测试的过程中,响应于生成故障信息,若所述故障数据库中存在有与所述故障信息相匹配的历史故障信息,则获取所述历史故障信息的处理状态;

所述故障信息提交模块用于若所述处理状态为已处理,则提交所述故障信息,并将所述故障信息存储至所述故障数据库;

所述故障信息提醒模块用于若所述处理状态为未处理,发送处理提醒信息。

9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7任一项所述的自动测试方法。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述的自动测试方法。

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