[发明专利]自动测试方法、系统、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202111239436.2 | 申请日: | 2021-10-25 |
公开(公告)号: | CN113971128A | 公开(公告)日: | 2022-01-25 |
发明(设计)人: | 史爱国 | 申请(专利权)人: | 展讯半导体(南京)有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人: | 罗朗 |
地址: | 211899 江苏省南京市高新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 测试 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种自动测试方法,其特征在于,所述自动测试方法包括以下步骤:
构建故障数据库,所述故障数据库用于存储目标系统的历史故障信息;
在对所述目标系统进行测试的过程中,响应于生成故障信息,若所述故障数据库中存在有与所述故障信息相匹配的历史故障信息,则获取所述历史故障信息的处理状态;
若所述处理状态为已处理,则提交所述故障信息,并将所述故障信息存储至所述故障数据库;
若所述处理状态为未处理,则发送处理提醒信息。
2.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤包括:
获取当前测试阶段的第一预设时间;
若所述当前测试阶段的测试时间大于或等于所述第一预设时间,则生成第一故障信息。
3.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤包括:
获取当前测试阶段与下一测试阶段之间第二预设时间;
若所述当前测试阶段执行完毕,超过所述第二预设时间未开始执行所述下一测试阶段,则生成第二故障信息。
4.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤包括:
获取当前测试阶段的预设测试标准;
若所述当前测试阶段的测试结果不符合所述预设测试标准,则生成第三故障信息。
5.如权利要求1所述的自动测试方法,其特征在于,所述生成故障信息的步骤后还包括:
获取当前测试阶段对应的负责用户;
发送所述故障信息至所述负责用户。
6.如权利要求5所述的自动测试方法,其特征在于,所述获取当前测试阶段对应的负责用户的步骤包括:
若所述当前测试阶段为用例测试阶段;
则获取与当前测试的用例对应的负责用户;
发送所述故障信息至所述负责用户。
7.如权利要求1-6任意一项所述的自动测试方法,其特征在于,所述对所述目标系统进行测试的步骤前还包括:
对每一测试阶段配置对应的目标信息,所述目标信息包括第一预设时间、第二预设时间、负责用户和/或预设测试标准。
8.一种自动测试系统,其特征在于,所述自动测试系统包括数据库构建模块、故障信息匹配模块、故障信息提交模块及故障信息提醒模块;
所述数据库构建模块用于构建故障数据库,所述故障数据库用于存储目标系统的历史故障信息;
所述故障信息匹配模块用于在对所述目标系统进行测试的过程中,响应于生成故障信息,若所述故障数据库中存在有与所述故障信息相匹配的历史故障信息,则获取所述历史故障信息的处理状态;
所述故障信息提交模块用于若所述处理状态为已处理,则提交所述故障信息,并将所述故障信息存储至所述故障数据库;
所述故障信息提醒模块用于若所述处理状态为未处理,发送处理提醒信息。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7任一项所述的自动测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述的自动测试方法。
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