[发明专利]自动测试方法、系统、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种自动测试方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：构建故障数据库；响应于生成故障信息，若所述故障数据库中存在有与所述故障信息相匹配的历史故障信息，则获取所述历史故障信息的处理状态；若已处理，则提交所述故障信息，并将所述故障信息存储至所述故障数据库；若未处理，则发送处理提醒信息。本发明中，如果故障数据库中存在有与检测的故障信息相匹配的历史故障信息：若该故障没有处理，则不会再次生成故障信息，节约的测试时间，避免系统存储冗余的故障信息，提高系统的资源利用度，并且可以发送处理提醒信息，可以提醒相关用户；如果已经处理了，则会提交故障信息，便于相关人员集中对故障信息进行处理。

技术领域

本发明涉及测试领域，特别涉及一种自动测试方法、系统、电子设备及存储介质。

背景技术

基于分段式监测与状态跟踪的测试，可以对各阶段的测试进行跟踪，快速定位测试失败所处位置，有效提高工作效率。但是该种测试仍然存在一些问题，如在短时间内执行多次测试的情况下，相同的故障会多发现多次，导致相同故障信息重复自动提交，耗费了测试时间，降低了测试效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中在测试的过程中，相同的故障会多次发现、重复提交，耗费了大量的测试时间，降低了测试效率的缺陷，提供一种可以节约测试时间、提高测试效率的自动测试方法、系统、电子设备及存储介质。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

本发明提供了一种自动测试方法，所述自动测试方法包括以下步骤：

构建故障数据库，所述故障数据库用于存储目标系统的历史故障信息；

在对所述目标系统进行测试的过程中，响应于生成故障信息，若所述故障数据库中存在有与所述故障信息相匹配的历史故障信息，则获取所述历史故障信息的处理状态；

若所述处理状态为已处理，则提交所述故障信息，并将所述故障信息存储至所述故障数据库；

若所述处理状态为未处理，则发送处理提醒信息。

较佳地，所述生成故障信息的步骤包括：

获取当前测试阶段的第一预设时间；

若所述当前测试阶段的测试时间大于或等于所述第一预设时间，则生成第一故障信息。

较佳地，所述生成故障信息的步骤包括：

获取当前测试阶段与下一测试阶段之间第二预设时间；

若所述当前测试阶段执行完毕，超过所述第二预设时间未开始执行所述下一测试阶段，则生成第二故障信息。

较佳地，所述生成故障信息的步骤包括：

获取当前测试阶段的预设测试标准；

若所述当前测试阶段的测试结果不符合所述预设测试标准，则生成第三故障信息。

较佳地，所述生成故障信息的步骤后还包括：

获取当前测试阶段对应的负责用户；

发送所述故障信息至所述负责用户。

较佳地，所述获取当前测试阶段对应的负责用户的步骤包括：

若所述当前测试阶段为用例测试阶段；

则获取与当前测试的用例对应的负责用户；

发送所述故障信息至所述负责用户。

较佳地，所述对所述目标系统进行测试的步骤前还包括：