[发明专利]一种超低电源电压检测电路

说明书

本公开涉及一种超低电源电压检测电路，包括：基准电压电路，基准电压电路接入待测电源电压，基准电压电路用于输出基准电压；其中，基准电压与待测电源电压以及超低电源电压检测电路所处环境的温度无关；电压检测电路，电压检测电路包括上拉压控电流源和下拉恒流源，上拉压控电流源接入待测电源电压，下拉恒流源接入基准电压，电压检测电路用于根据基准电压实现对待测电源电压的检测；其中，电压检测电路的输出电压在待测电源电压升高至预设值时与待测电源电压一致。通过本公开的技术方案，实现了对超低电源电压的电压值检测。

技术领域

本公开涉及微电子技术领域，尤其涉及一种超低电源电压检测电路。

背景技术

超低压电源电压检测电路在各种需要低压启动的场景中极为常见，超低压电源电压检测电路用于检测电源电压状态并辅助后级电路完成启动。

常用的低电源电压检测电路往往需要一个基准电压源提供基准电压，常用的低电源电压检测电路还需要一个低压比较器，低压比较器往往还需要基准电流源以提供偏置。但是，在电源电压较低，例如电源电压在0.4V以下时，基准电压源以及基准电流源难以工作，即无法实现对超低电源电压的检测。因此，如何实现一种能够在超低电源电压下工作的电源电压检测电路成为了亟待解决的问题。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种超低电源电压检测电路，实现了对超低电源电压的电压值检测。

本公开提供了一种超低电源电压检测电路，包括：

基准电压电路，所述基准电压电路接入待测电源电压，所述基准电压电路用于输出基准电压；其中，所述基准电压与所述待测电源电压以及所述超低电源电压检测电路所处环境的温度无关；

电压检测电路，所述电压检测电路包括上拉压控电流源和下拉恒流源，所述上拉压控电流源接入所述待测电源电压，所述下拉恒流源接入所述基准电压，所述电压检测电路用于根据所述基准电压实现对所述待测电源电压的检测；其中，所述电压检测电路的输出电压在所述待测电源电压升高至预设值时与所述待测电源电压一致。

可选地，所述基准电压电路包括：

稳压电路、栅压产生电路、衬压产生电路和基准产生电路，所述稳压电路分别与所述栅压产生电路、所述衬压产生电路和所述基准产生电路电连接，所述基准产生电路分别与所述栅压产生电路和所述衬压产生电路电连接；

所述稳压电路接入所述待测电源电压并用于输出内部电源电压至所述栅压产生电路、所述衬压产生电路和所述基准产生电路；其中，所述内部电源电压与所述待测电源电压无关；

所述基准产生电路用于根据所述栅压产生电路输出的栅极电压和所述衬压产生电路输出的衬底电压输出所述基准电压。

可选地，所述稳压电路包括：

第一N型晶体管，所述第一N型晶体管的栅极与所述第一N型晶体管的源极电连接，所述第一N型晶体管的漏极接入所述待测电源电压，所述第一N型晶体管的衬底接地；

第一P型晶体管，所述第一P型晶体管的栅极以及所述第一P型晶体管漏极接地，所述第一P型晶体管的源极与所述第一P型晶体管的衬底以及所述第一N型晶体管的源极电连接并输出所述内部电源电压。可选地，所述栅压产生电路包括：

第二P型晶体管，所述第二P型晶体管的栅极与所述第二P型晶体管的漏极电连接，所述第二P型晶体管的衬底与所述第二P型晶体管的源极电连接并接入所述内部电源电压；

第二N型晶体管，所述第二N型晶体管的栅极、所述第二N型晶体管的源极以及所述第二N型晶体管的衬底均接地，所述第二N型晶体管的漏极与所述第二P型晶体管的漏极电连接并输出所述栅极电压。

可选地，所述衬压产生电路包括：