[发明专利]一种长型条半导体处理设备有效
申请号: | 202111246489.7 | 申请日: | 2021-10-26 |
公开(公告)号: | CN113707581B | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 张新峰;曹吴昊 | 申请(专利权)人: | 江苏卓远半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 合肥市都耒知识产权代理事务所(普通合伙) 34227 | 代理人: | 何鑫鑫 |
地址: | 226500 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 长型条 半导体 处理 设备 | ||
1.一种长型条半导体处理设备,包括底座(100),其特征在于,所述底座(100)顶面一端转动连接有盖体(200),所述底座(100)一端固定连接有用于放置蓝膜的进料机构(300),所述盖体(200)一侧开设有用于蓝膜穿过的限位槽(201),所述底座(100)顶面开设有刀片槽(101),且刀片槽(101)中心开设有圆槽(102),所述盖体(200)上设置有用于对蓝膜进行中心按压的定点机构(400),所述定点机构(400)底端设置有用于对蓝膜进行直接挤压的弹性橡胶膜(700),所述定点机构(400)内部设置有用于从中心依次对四周蓝膜进行按压的扩散机构(500),扩散机构(500)使弹性橡胶膜(700)对晶圆进行从中心到边沿的挤压,所述定点机构(400)顶端设置有用于支撑和转动定点机构(400)和扩散机构(500)的手动机构(600)。
2.根据权利要求1所述的一种长型条半导体处理设备,其特征在于,所述进料机构(300)包括框体(310),所述框体(310)一侧固定连接于底座(100)一端,所述框体(310)一端开设有矩形缺口,且矩形缺口一侧转动连接有转动板(340),所述框体(310)另一端转动连接有转动杆(320),且转动杆(320)一端贯穿框体(310)另一端并延伸至框体(310)另一端外部,所述框体(310)另一端位于转动杆(320)一端两侧均固定连接有摩擦块(330)。
3.根据权利要求2所述的一种长型条半导体处理设备,其特征在于,所述框体(310)一端位于转动杆(320)上方转动连接有滚动辊(350)。
4.根据权利要求1所述的一种长型条半导体处理设备,其特征在于,所述底座(100)顶面另一端固定连接有贴附板(110)。
5.根据权利要求1所述的一种长型条半导体处理设备,其特征在于,所述定点机构(400)包括环体(410),所述环体(410)顶端固定连接于盖体(200)内顶面,所述环体(410)底口内侧与弹性橡胶膜(700)固定连接,所述环体(410)内部滑动连接有壳体(420),所述壳体(420)内顶面固定连接有连接框(430),且连接框(430)底面固定连接有第一电动推杆(450),所述第一电动推杆(450)底端固定连接有下压块(451),所述环体(410)顶面与手动机构(600)转动连接,所述扩散机构(500)位于壳体(420)内部。
6.根据权利要求5所述的一种长型条半导体处理设备,其特征在于,所述手动机构(600)包括两个对称的L型板(610),两个所述L型板(610)转动连接于壳体(420)顶面,所述盖体(200)顶面位于两个L型板(610)一侧均开设有滑动槽(202),且两个滑动槽(202)内部均滑动连接有卡块(210)。
7.根据权利要求6所述的一种长型条半导体处理设备,其特征在于,所述壳体(420)内环面固定连接有隔板(460),所述第一电动推杆(450)底端贯穿隔板(460)中心,所述隔板(460)中心固定连接有套筒(470),所述下压块(451)滑动套接于套筒(470)内部,所述套筒(470)底端位于弹性橡胶膜(700)顶面中心上方。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏卓远半导体有限公司,未经江苏卓远半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111246489.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种金属薄板加工用压平装置
- 下一篇:一种防腐石油沥青熔化设备
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造