[发明专利]陶瓷片碎裂检测系统、方法、装置及相关设备在审
申请号: | 202111248055.0 | 申请日: | 2021-10-26 |
公开(公告)号: | CN114018184A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 黄猛;郭浩;黄颂儒;孙雨欣;刘永杰 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G01B17/00 | 分类号: | G01B17/00;G01D21/02 |
代理公司: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人: | 涂凤琴 |
地址: | 519000*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷 碎裂 检测 系统 方法 装置 相关 设备 | ||
1.一种陶瓷片碎裂检测系统,其特征在于,用于对陶瓷片的碎裂情况进行检测,所述检测系统,包括:控制组件和设置在所述陶瓷片外部的位置检测装置;所述控制组件与所述位置检测装置相连;
所述位置检测装置,用于检测所述陶瓷片的边缘位置信息,并将所述边缘位置信息发送至所述控制组件;
所述控制组件,用于接收所述边缘位置信息,在所述边缘位置信息发生变化时,确认所述陶瓷片存在碎裂风险。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述位置检测装置,包括:超声波探测器,或,边缘控制器。
3.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,所述超声波探测器,设置于所述陶瓷片的正上方;或,
所述边缘控制器,设置于所述陶瓷片的边缘位置。
4.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,还包括:设置在所述陶瓷片外部的变量检测装置,所述变量检测装置与所述控制组件相连;
所述变量检测装置用于检测所述陶瓷片的预设变量信息,并将所述预设变量信息发送至所述控制组件;
所述控制组件用于接收所述预设变量信息,并在所述预设变量信息发生改变时,触发所述位置检测装置检测所述陶瓷片的边缘位置信息,以在所述边缘位置信息发生变化时,确认所述陶瓷片存在碎裂风险。
5.根据权利要求4所述的检测系统,其特征在于,所述变量检测装置,包括:压力检测组件,或,温度检测组件。
6.根据权利要求5所述的检测系统,其特征在于,所述压力检测组件设置于所述陶瓷片的底部;或,
所述温度检测组件设置于所述陶瓷片的外部。
7.一种陶瓷片碎裂检测方法,其特征在于,应用于权利要求1-6任一所述的陶瓷片碎裂检测系统,所述方法,包括:
接收陶瓷片的边缘位置信息;
在所述边缘位置信息发生变化时,确认所述陶瓷片存在破碎风险。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述接收陶瓷片的边缘位置信息,包括:
接收预设变量信息;
在所述预设变量信息发生改变时,触发位置检测装置检测所述陶瓷片的边缘位置信息,以接收所述陶瓷片的边缘位置信息。
9.一种陶瓷片碎裂检测装置,其特征在于,包括:接收模块和确定模块;
所述接收模块,用于接收陶瓷片的边缘位置信息;
所述确定模块,用于在所述边缘位置信息发生变化时,确认所述陶瓷片存在破碎风险。
10.一种陶瓷片碎裂检测设备,其特征在于,包括:处理器,以及与所述处理器相连接的存储器;
所述存储器用于存储计算机程序,所述计算机程序至少用于执行权利要求7~8任一项所述的陶瓷片碎裂检测方法;
所述处理器用于调用并执行所述存储器中的所述计算机程序。
11.一种功率板,其特征在于,包括:功率半导体器件、陶瓷片和权利要求1-6任一所述的陶瓷片碎裂检测系统;所述陶瓷片设置在所述功率半导体器件的底部,所述陶瓷片用于对所述功率半导体器件散热;所述陶瓷片碎裂检测系统用于对陶瓷片的碎裂情况进行检测。
12.根据权利要求11所述的功率板,其特征在于,所述功率板包括散热器;所述散热器上设置有:散热器沟槽;所述陶瓷片放置于所述散热器沟槽中。
13.一种变流器,其特征在于,包括权利要求11-12任一所述的功率板。
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