[发明专利]一种靶场试验基线修正及标校的方法及装置

权利要求书

1.一种靶场试验基线修正及标校的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

步骤S101：在控制系统中分别调平发射装置及光电跟踪仪；

步骤S102：转动光电跟踪仪转台，瞄准发射装置的发射管，调整发射装置架位，直至所述光电跟踪仪的光轴与发射装置的发射管同轴，对数据进行采样；

步骤S103：基于采样数据，计算光电跟踪仪相对于发射装置的基线；

步骤S104：基于采样数据，计算光电跟踪仪相对于发射装置的零位误差。

2.如权利要求1所述的靶场试验基线修正及标校的方法，其特征在于，所述步骤S101：在控制系统中分别调平发射装置及光电跟踪仪的方式包括：

对所述光电跟踪仪，在所述光电跟踪仪转台水平基准面放置水平仪，转动光电跟踪仪转台，观察水平仪的水泡位置，根据水泡的倾斜方向，调整垫片数量，调整所述光电跟踪仪转台的水平基准面，使得所述光电跟踪仪转台的水平基准面处于水平状态。

对所述发射装置，将光纤罗经放置到发射装置水平基准面，在与光纤罗相连接的笔记本电脑上读取所述发射装置的倾斜角度，调整发射装置车辆的四个支撑柱，使得发射装置水平安装基面保持水平。

3.如权利要求2所述的靶场试验基线修正及标校的方法，其特征在于，所述步骤S102，包括：转动光电跟踪仪转台，瞄准发射装置的发射管调整发射装置架位，直至所述光电跟踪仪的光轴与发射装置的发射管同轴，对数据进行采样，采样数据包括：我方舰航向，记为Kw，单位为rad，由光纤罗采样；舷角，表示发射装置方位架位，记为qw，单位为rad，由发射装置采样；高低角，表示发射装置高低架位，记为ε，单位rad，由发射装置采样；光电舷角，表示光电跟踪仪方位角，记为qw_gd，单位为rad，由光电跟踪仪采样；光电高低角，表示光电跟踪仪高低角，记为ε_gd，单位为rad，由光电跟踪仪采样；水平侧距离，表示光电跟踪仪与发射装置侧面之间的水平距离，记为d'，单位为m；二分之一放置发射装置的车辆宽度，记为c,单位为m。

4.如权利要求3所述的靶场试验基线修正及标校的方法，其特征在于，所述步骤S103：基于采样数据，计算光电跟踪仪相对于发射装置的基线，包括：

步骤S1031：计算所述光电跟踪仪与所述发射装置的水平距离d：

步骤S1032：计算光电跟踪仪相对于发射装置在稳定舰艇坐标系的基线，

H_cp＝d×tan(ε) (公式5)

X_cp＝d×sin(qw) (公式6)

Y_cp＝d×cos(qw) (公式7)

其中，H_cp为光电跟踪仪相对于发射装置在稳定舰艇坐标系h轴上的位置分量，X_cp为光电跟踪仪相对于发射装置在稳定舰艇坐标系x轴上的位置分量，Y_cp为光电跟踪仪相对于发射装置在稳定舰艇坐标系y轴上的位置分量；

步骤S1033：计算光电跟踪仪相对于发射装置在大地坐标下的基线

H′_cp＝H_cp (公式8)

其中，H′_cp为光电跟踪仪相对于发射装置在大地坐标系h轴上的位置分量、X′_cp为光电跟踪仪相对于发射装置在大地坐标系x轴上的位置分量、Y′_cp为光电跟踪仪相对于发射装置在大地坐标系y轴上的位置分量。

5.如权利要求4所述的靶场试验基线修正及标校的方法，其特征在于，步骤S104：基于采样数据，计算光电跟踪仪相对于发射装置的零位误差，包括：

步骤S1041：计算光电跟踪仪相对于发射装置的零位误差ΔB、Δε，有如下计算公式：

ΔB＝qw-π-qw_gd (公式11)

Δε＝-ε-ε_gd (公式12)

步骤S1042：对火控角度进行修正，系统控制台将所述零位误差ΔB、Δε代入光电跟踪仪采样数据中，进行火控解算和显示

qw_hk＝qw_gd+ΔB (公式10)

ε_hk＝ε_gd+Δε (公式11)。